Nikon Corporation(이하 Nikon)은 전자 부품의 비파괴 검사를 위한 세계적 수준의 솔루션으로서 플랫폼의 입지를 강화하기 위해 XT V 시리즈 X-ray 및 CT 시스템에 대한 향상된 기능을 발표했습니다. 이러한 향상된 기능을 통해 작업자는 더 나은 이미지 품질을 얻고, 더 무거운 샘플을 스캔하고, 정전기 방전 및 방사선 손상으로부터 민감한 부품을 보호할 수 있습니다.
XT V 시리즈에 대한 선택적 업그레이드로 두 가지 소프트웨어 개선 사항과 다섯 가지 하드웨어 개선 사항을 사용할 수 있으므로, 고객은 특정 애플리케이션 요구사항에 맞게 자체 시스템을 설정할 수 있습니다.
소프트웨어 개선 사항:
- High.Contrast Filter 2.0: 샘플 형태와 밀도의 모든 조합에 대해 결함을 즉시 표시하도록 일관되게 선명한 이미징을 제공합니다.
하드웨어 개선 사항:
- 헤비 듀티 트레이: 크고 무거운 부품을 스캔할 수 있습니다. 작업자는 각 배치에서 더 많은 부품을 스캔하고 검사 기능도 확장할 수 있습니다.
- 다이아몬드 윈도우: 작동 범위 전반에 걸쳐 향상된 이미지 대비를 제공하여 노이즈를 줄이고 스캔 속도를 증가하는 것으로, 특히 저밀도 및 혼합 재료 샘플에 유용합니다.
- 저선량 콜리메이터: 방사선에 민감한 전자 부품를 보호하여, 반도체 소자와 같은 민감한 부품의 선량을 최소화하는 동시에 대형 배치(batch)를 안전하게 검사할 수 있습니다.
- ESD 안전 업그레이드: ESD 보호 구역(EPA)에 설치된 경우 IEC 6100-4-2, ANSI/ESD S20.20 및 JEDEC JESD625 표준에 따라 민감한 전자 부품에 대한 ESD 안전 검사를 제공하므로 ESD 안전 프로세스에 안심하고 통합할 수 있습니다.
- 고배율 CT 암(Arm): 작은 샘플에 대해 고배율의 CT 스캔을 지원하므로 작업자는 이전에 가능했던 것보다 더 정밀한 세부 정보를 볼 수 있습니다.
XT V 시리즈는 PCB, BGA, 칩, 반도체 소자 등의 전자 부품에 대한 검사 응용 분야에서 꾸준히 탁월한 성능을 과시하고 있습니다. 이 시스템은 시장을 선도하는 Xi 마이크로포커스 X선 발생장치와 강력한 이미지 향상 기능을 유지하면서, 새로운 개선 사항을 통해 전자 부품 제조, 반도체 생산 및 품질관리 환경 전반에서 고객에게 추가적인 가치를 제공합니다.
향상된 XT V 시리즈에 대한 자세한 내용은 Nikon 웹사이트에서 확인할 수 있습니다.
(주)니콘인스트루먼트코리아
www.industry.nikon.com
Tel: (02)6288-1900
Email: [email protected]
