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XT Hシリーズ
最も要求の厳しい検査アプリケーションに適応するソリューション
研究機関で求められる適応性に加え、225 kVのRotating.Target 2.0、Half.Turn CT取得モード、Auto.Filament Controlなど、ニコン独自の機能を搭載しています。生産現場での検査に使用することで、検査時間の短縮と稼働率の向上を実現します。
主な特長
豊富な製品ラインナップ
用途に応じて本体、X線源やディテクタ等を選択可能。また、測定ニーズに対応した精度保証タイプもご用意。
X.TendヘリカルCT
コーンビームとマルチスキャン・スティッチングによって、アーチファクトを排除することで、背の高い被検物を1回の撮像プロセスでスキャンできます。また、被検物を高倍率でスキャンすることで、解像度が大幅に向上するという利点もあります。
世界唯一の産業用225 kV反射型回転ターゲット
世界唯一の産業用225 kV反射型回転ターゲットも選択可能。最大450Wまでの高出力領域での高分解撮影を実現し、高速撮像や高密度サンプルの撮像に最適です。
特長・機能
通常の半分である180度回転での計測を可能にし、計測時間を大幅に短縮。ニコン独自の再構築アルゴリズムにより、
ハーフスキャン時に発生しやすいアーチファクトを軽減させることが可能となります。
縦方向に長いサンプルでも一括で高倍率撮像を実現。また、コーンビームアーティファクトを低減するため、低ノイズなCTデータの取得も可能です。
(対応機種:MCT225 *オプション)
MCT225はVDI/VDE 2630に準拠した計測用CT装置です。既存の測定機では測定困難な内部・外部寸法を非破壊で効率よく高精度に計測できます。
また、MCT225以外のX線CT検査装置においても、ローカルキャリブレーションを実行することで、お客様で対応可能な簡易校正プログラムにより、測定結果の信頼性を大幅に向上します。
関連製品
AI Reconstruction(AI再構成)
XT Hシリーズ用Inspect-X
Scatter Correction CT
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