Sitemap

• Beranda
• Berita
• Hubungi Kami
• Sitemap
• Tentang Kami
• Acara dan Webinar
• Produk
  • X-ray CT
    • Seri XT H
    • Tilted CT
    • Sistem CT dan Large-Envelope X-ray Serbaguna
    • Sistem Sinar X dan CT Seri VOXLS 30
    • XT V 130 dan XT V 160
      • Penerapan Non-Elektronik untuk Seri XT V
    • Pemeriksaan CT Otomatis untuk Produksi Tanpa Cacat
    • Teknologi X-ray Source
    • Penggunaan Inspect-X untuk CT 3D
    • Penggunaan Inspect-X untuk Seri XT V
    • Analisis LiB.Overhang
  • Sistem Pengukur Laser Radar
    • Laser Radar APDIS MV4x0
    • Sistem Pengukur APDIS BiW
    • Sistem APDIS Gap & Flush
    • APDIS di Industri Otomotif
  • Sistem Pengukur Video
    • NEXIV VMZ-NWL200
    • Seri NEXIV VMZ-S
    • Seri iNEXIV VMA
    • Seri NEXIV VMZ-K
    • NEXIV VMZ-H3030
    • Perangkat Lunak Sistem Pengukur Video
      • NEXIV AutoMeasure
      • Perangkat Lunak Tambahan
  • Pengukur Manual
    • Mikroskop Pengukur
      • Seri MM-200
      • Seri MM-400N dan MM-800N
      • Perangkat Lunak dan Pemrosesan Data
      • Aksesori Seri MM-400N dan MM-800N
        • Meja Putar Stage Pengukur Manual X/Y
        • Stage Pengukur Manual X/Y
    • Profile Projector
      • V-20B
      • Seri V-12B
      • Aksesori
        • Meja Putar
        • Profile Projector Stage X-Y
      • Perangkat Lunak dan Prosesor Data
    • Autocollimators, Sistem Pengukur Panjang Digital
      • Autocollimator 6B-LED dan 6D-LED
      • Sistem Pengukur Panjang Digital, Seri DIGIMICRO
  • Mikroskop Industri
    • Mikroskop Stereo Tipe Zoom
      • SMZ25 dan SMZ18
      • SMZ1270i dan SMZ1270
      • SMZ800N
      • SMZ745T dan SMZ745
      • SMZ445 dan SMZ460
      • SMZ-2
      • Aksesori Seri SMZ
        • Objektif dan Nosepiece
        • Observation Tube (Sistem Optik Paralel)
        • Stand dan Stage
    • Mikroskop Industri
      • ECLIPSE L300ND, L300N dan L200ND, L200N
      • ECLIPSE LV150NA dan LV150N
      • ECLIPSE LV100NDA dan LV100ND
      • ECLIPSE MA200
      • ECLIPSE MA100N
      • ECLIPSE LV100N POL dan Ci-POL
      • Wafer Loader Seri NWL200
      • Perangkat Lunak
      • Komponen Mikroskop
        • Focusing Modules, Base, Arm, dan Pengendali Bermotor
        • Lensa Objektif
        • Komponen Modular Mikroskop Compound
    • Kamera Digital untuk Mikroskop
      • Digital Sight 10
      • DS-Qi2
      • DS-Fi3
      • Digital Sight 1000
• Dukungan dan Layanan
  • Bantuan Pelanggan
  • Pemeriksaan X-Ray CT
• Pusat Unduhan
• Policies and Legal
  • Kebijakan Kuki
  • Kebijakan Privasi
  • Syarat dan Ketentuan Penggunaan