Optik Nikon CFI60-2 superior ini menghasilkan gambar cemerlang pada kedua eyepiece serta pada kamera pencitraan digital Nikon dengan perangkat lunak analisis. Memadukan optik unggulan ini dengan sistem pencahayaan yang brilian, akan menghasilkan gambar dengan kontras dan resolusi yang sempurna.
Mikroskop ini diperuntukkan bagi pemeriksaan optik yang sangat presisi untuk wafer (200mm untuk seri L200N dan 300mm untuk seri L300N), reticules, dan substrat lainnya.
Desain inovatif Nikon memungkinkan teknik pencitraan yang jernih, meliputi kontras tinggi, bidang terang, bidang gelap, polarisasi (POL), kontras interferensi diferensial (DIC), dan kontras optik interferometri berkas ganda.
Rangkaian lengkap kamera Digital Sight Nikon secara efisien mengabadikan gambar sampel dan mengirimkannya ke perangkat lunak pemroses gambar dari rangkaian NIS-Elements, beserta data mikroskop pada lensa objektif yang digunakan, pengaturan pembesaran dan intensitas cahaya.
Wafer loader Nikon diterima dengan baik dan dipercaya dalam industri semikonduktor dan banyak implementasi yang digunakan saat ini.
Desain inovatif Nikon memungkinkan teknik pencitraan yang jernih, meliputi kontras tinggi, bidang terang, bidang gelap, polarisasi (POL), kontras interferensi diferensial (DIC), dan kontras optik interferometri berkas ganda.
Cahaya terpantul: bidang terang, bidang gelap, polarisasi (POL), kontras interferensi diferensial (DIC), epi-fluorescence, dan interferometri dua berkas.
Cahaya transmisi: bidang terang, bidang gelap, polarisasi, kontras interferensi diferensial, dan kontras fase.
Mikroskop ini akan mendeteksi dan mengendalikan lensa objektif yang sedang digunakan, intensitas cahaya, penerangan episcopic dan apertur melalui koneksi USB ke perangkat lunak NIS-Elements Nikon.
Pemosisian kendali operator yang optimal dengan eye-tube bersudut variabel memungkinkan kerja bebas letih.
Gambar yang menghadap ke atas dan ke kanan tersedia untuk mengamati bahan mentah, semikonduktor dan komponen industri dengan akurat.
Penerapan berpusat pada tugas pemeriksaan di sektor elektronik dan telekomunikasi.
Waveguide antena diukur dengan sangat presisi, serta komponen lain seperti wafer untuk perangkat semikonduktor atau photovoltaic dan sistem mikro elektro mekanik (MEMS) yang digunakan pada ponsel cerdas, giroskop, dan akselerometer, sebagai contoh.
Untuk detail lebih lanjut mengenai produk ini, tim ahli kami akan memberikan informasi tambahan, dan akan mengatur kunjungan ke lokasi Anda bila diperlukan.
Konsultasikan detail proyek Anda kepada kami dan tim ahli kami akan memberikan saran mengenai sistem pemeriksaan terbaik sesuai kebutuhan Anda.
Silakan isi formulir berikut dan kami akan segera menghubungi Anda.
"Kolom ini wajib diisi." indicates required fields
