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SMZ1270i und SMZ1270
Fantastische Bildschärfe über den gesamten Vergrößerungsbereich
Ideal für Studien zur Fehleranalyse, zur Bestimmung von Fehlermodi und zur Überprüfung von Lösungen. Oberflächenuntersuchungen von Bauteilen, Risserkennung, Korrosionsstudien, Verbundwerkstoffe, Textilien, Teile aus Werkzeugmaschinen für kritische Komponenten in der Luft- und Raumfahrt oder Bau- und Konstruktionsmaterialien lassen sich problemlos durchführen.
Nikon SMZ1270i und SMZ1270
Das erweiterte Zoomverhältnis von 12,7:1 ist für Anwendungen in der Materialwissenschaft und der industriellen Fertigung geeignet und verbindet Benutzerfreundlichkeit mit einer hervorragenden optischen Leistung.
Bester optischer Zoom seiner Klasse mit einem Verhältnis von 12,7:1
Mit dem klassenbesten optischen Zoomverhältnis von 12,7:1 (0,63x-8x) decken das SMZ1270i und das SMZ1270 einen umfangreichen Vergrößerungsbereich ab, der weit über den früherer Modelle hinausgeht.
SMZ1270i Data Link Kommunikationsanschluss
Das Modell SMZ1270i verfügt zusätzlich über eine Smart-Zoom-USB-Schnittstelle, über die die Position des Vergrößerungswechslers gemeldet wird, so dass die Bildverarbeitungssoftware die Kalibrierung der Messung automatisch anpassen kann, wenn sich der Zoomwert ändert.
Produkthighlight
Großes Low-Power-Sichtfeld
Das Sichtfeld der niedrigsten Zoomvergrößerung reicht bis zu 35 mm, so dass Sie problemlos eine ganze Probe oder Schale mit einem Durchmesser von 35 mm betrachten können.
Hochwertige Bilder
Erstaunlich klare, helle Bilder mit minimaler chromatischer Aberration über den gesamten erweiterten Zoombereich dank der außergewöhnlichen „Plan Apo WF“ und „ED plan WF“ Objektivlinsen.
Große Auswahl an Zubehör
Das breite Spektrum an Zubehörfunktionen und -merkmalen, das für Nikons Forschungs-Stereomikroskope verfügbar ist, ist auch für die SMZ1270- und 1270i-Serie erhältlich.
Ergonomisches Designkonzept für die Nutzung
Ergonomische Vorteile ergeben sich aus der Gestaltung der Bedienelemente und der Haltung des Bedieners. Die Positionierung der Bedienelemente und die im Winkel verstellbaren Beobachtungstuben ermöglichen ein komfortables, ermüdungsfreies Arbeiten.
Wesentliche Eigenschaften
Optisches System | Parallel-Optik-Typ (Vergrößerungs-Typ) |
Zoomverhältnis | 12,7:1 |
Zoombereich | 0.63 u2013 8x (0,63/1/2/3/4/6/8x stoppt) |
Gesamtvergrößerung | 3.15 u2013 480x (Abhängig vom Okular und den Objektiven) (mit koaxialem Auflicht: 15 u2013 540x) |
Tuben | Okular-Neigungswinkel: 20u00b0 (P-B Binokulartubus) / 15u00b0 (P-TL100 Trinokulartubus) / 0u00b0-30u00b0 (P-TERG50 Trinokularer Kipptubus, P-TERG50 Trinokularer Kipptubus) |
Okulare | C-W10xB (F.N. 22), C-W15x (F.N. 16), C-W20x (F.N. 12,5), C-W30x (F.N. 7) |
Objektive | Plan Apo 0,5x/WF, Plan Apo 0,75x/WF, Plan Apo 1x/WF, ED Plan 1,5x/WF, ED Plan 2x/WF |
Arbeitsabstand | 70mmuff08mit Plan Apo 1x/WF |
Gewicht (ca.) | 11,9 kg (mit P-TERG100 Trinokularer Kipptubus + P-DSL32 LED Durchlichtstativ) |
Zugehörige Produkte
Software
Zubehör für die SMZ-Serie
Digitalkameras für Mikroskope
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