面向生产的 Dual.Material CT
一种创新的重建技术，可在生产环境中自动检测双材料样品。以市场领先的方式减少高密度材料造成的伪影，从而获得高质量的图像。
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XT H 450
推进高压CT检测的边界（超越高电压CT检测的极限）
尼康独家的450 kV 微焦点光源提供穿透高密度零件所需的功率，同时实现微米精度，光斑尺寸比小焦点光源小很多倍。结合独家的CLDA线性探测器，产生清晰的无散射图像。
产品亮点
独家的450 kV微焦点源
尼康的450kV/450W微焦点X射线源是世界上唯一提供高能量和80μm高分辨率焦斑尺寸的组合，用于高密度部件检测。
提供终极分辨率的旋转靶
尼康的450kV微焦点源采用独家的旋转靶技术，在450W功率下仅需120μm的光斑大小即可实现终极分辨率或缩短扫描时间。
无散射CT
尼康内部的CLDA（曲线线性探测器阵列）是一种高灵敏度线性探测器，专门为尼康的450kV微焦点源设计，不会捕获不需要的散射X射线，从而生成惊人的无散射图像。
核心功能
使用Offset.CT进行更宽和更高分辨率的扫描
使用Offset.CT，不仅可以扫描更大的部件，甚至比探测器本身更宽的部件，还可以使部件更靠近X射线源，从而获得更高的扫描分辨率。
自动探测器评估
平板探测器符合ASTM E2597标准，用户能够根据ASTM E2737标准评估和跟踪其性能，以保证长期可靠的检测效率和精度。
双探测器，更具灵活性
尼康行业领先的、具有小像素尺寸和快速曝光的大面积平板探测器与线性CLDA探测器相结合，可在单个系统中实现高通产和惊人的图像质量扫描。
Half.Turn CT缩短采集时间
由于内部开发的优化重建算法，通常使用常规CT采集的约一半数据可以生成无伪影数据，而不会损失质量或精度，从而显著缩短了采集时间。
XT H 系列
XT H 225 ST 2x
VOXLS 40 C 450
XT V 系列
High.Contrast Filter
 |  |
| XT H320 应用于大型密度较高工件 | XT H450 应用于高密度工件 |
| 工件尺寸 | 工件尺寸 |
| 工件密度 | 工件密度 |
| 工件重量 | 工件重量 |
| 双探测器 | 双探测器 |
| 无散射 CT | 无散射 CT |
| 占地面积 | 占地面积 |
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