[웨비나] 반도체 공정에서 화상 측정 솔루션

더욱 미세화 되어가는 반도체 공정에서는 점점 더 다양하고 보다 어려운 측정 요구가 높아지고 있습니다. 니콘은 어떻게 이러한 과제를 해결했을까요?
2023년 3월 7일 화
오후 1:00 - 오후 1:30 KST
온라인

제품을 더 정확하고 빠르게 측정하고 싶으신가요?

만약 화상 측정 시스템, 측정용 현미경  혹은 레이저 현미경/백색광 간섭계를 사용하고 계시다면 니콘 NEXIV 웨비나를 통해 그 해결책을 찾으실 수 있습니다.

반도체 제조 분야는 5G와 전기차 확장에 영향을 미치며 빠르게 성장하고 있습니다. 생산 과정에서 신뢰성과 품질에 대한 기대 수준도 매우 높아지고 있습니다. 또한 생산 공정에서 축소와 인티그레이션의 체계적인 방법은 높은 정밀도의 측정 데이터를 필요로 합니다.

니콘의 화상 측정 시스템 NEXIV-K 시리즈는 시야(FOV) 내의 XY의 측정 뿐만 아니라 높이 측정도 가능합니다.
니콘의 심기민 차장(화상 측정 어플리케이션 엔지니어)이 실제 사례를 포함하여 다른 측정기를 사용하는 고객들이 직면한 문제에 대한 해결책을 소개합니다.

이벤트 세부정보

이벤트 장소
온라인
이벤트 유형
온라인
이벤트 날짜
2023년 3월 7일 화
이벤트 시간
오후 1:00 - 오후 1:30 KST
지원 번호
N/A
발표자 이름
심기민
이벤트 공유

기타 지난 이벤트

결과 없음.