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APDISシリーズ
非接触検査の自動化
APDISは前処理を必要とせず、離れた場所からでも精密な非接触計測が可能です。様々なアプリケーションにおいて、広範囲な自動計測により、工数短縮・人為誤差の排除を実現します。
Laser Radar APDISシリーズ
開発者インタビュー
より小型に、高速に、高性能に
次世代Laser Radarが、産業分野での計測に変革をもたらします。
特長
高い生産性
長時間の立上げ時間不要で、高速・正確に自動検査を実施し、究極の生産性が得られます。
自由度の高い計測装置レイアウト
計測したい場所へ移動できるモバイルシステムで、生産ライン内などの必要な現場に持ち込み、絶対精度での測定を実現します。
高い安全性
プローブやターゲットを必要とせず、安全・短時間の計測が可能です。
前処理不要
ヘテロダイン干渉法を使って測定するため、対象物の前処理、プローブやターゲットの設置を必要とせず、ほぼあらゆる表面に対して非接触測定が行えます。
アプリケーション
航空宇宙産業でのアプリケーション
APDISは高速かつ自動化された非接触測定に使用され、対象物は自動車のドアのような小型部品から航空機の大型の組立部品まで多岐にわたります。この能力は非接触式で正確性の高いレーザーベースの計測技術を独自に応用することで実現しています。
Metrolog、Polyworks、Spatial Analyzerなどの一般的なソフトウェアインターフェースを用いることで、容易に自動化と非接触測定を可能とし、これにより測定値のばらつきは最小化されます。また、ユーザーは使い慣れた分析ツールや測定コマンドを使って作業することができます。
MV430 | MV450 | MV430E | MV450E | |
計測範囲 | 0.5m - 30m | 0.5m - 50m | 0.5m - 30m | 0.5m - 50m |
サンプリングレート | 4,000Hz | |||
計測速度* | 500点/秒 2 秒/cm2 | 1,000点/秒 1 秒/cm2 |
||
フィーチャー計測 | 標準フィーチャースキャン | エンハンスドフィーチャースキャン** | ||
振動計測 | - | 最大2,000Hz : 分解能1µm/m | ||
環境対策 | IP54 |
*初期設定でスタック4 、ポイントスペーシング0.1 mm、ラインスペーシング1 mmとした場合
**フィーチャー計測速度は標準版システムに対して最大2倍。実際の計測速度は設定に依存します。
Range[角度] | Azimuth[方位角] | Elevation[仰角] | |
測定範囲 | 0.5m - 30m / 50m | ± 180° | ± 45° |
精度 (MPE) | 20µm + 5µm/m | 13.6µm/m |
2点間距離測定精度* MPE(µm) = √(2(20 + 5RAve)2 + (13.6RAve)2) | |||||||
平均測定距離 (m) | 0.5 | 1 | 2 | 5 | 10 | 20 | 30 |
MPE (µm) | 33 | 40 | 57 | 115 | 216 | 420 | 625 |
Typical (µm) | 17 | 20 | 28 | 58 | 108 | 210 | 313 |
* 最大許容誤差/Maximum Permissible Error(MPE)はASME B89.4.19-2006規格に基づいており、正立姿勢・20℃で検証されています。
表記のTypical accuracy(標準的な精度)はMPEの1/2です。すべての測定は安定した環境下でグレード25以上の1/2インチツーリングボールを用いて行われています。
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