株式会社ニコン（以下、ニコン）は、XT V シリーズ X線/CT検査装置の機能を大幅に強化しました。電子部品の非破壊検査において、世界最高水準のソリューションを提供します。高画質画像の取得、重量サンプルのスキャン、部品を静電気放電や放射線ダメージからの保護が可能になります。
ソフトウェアの強化：
- High.Contrast Filter 2.0：新開発のフィルター機能により、スキャン範囲全域に渡って高精細な画像を取得できます。サンプルの形状や密度に応じた色調整が不要で、即座に欠陥を検出できます。
ハードウェアの強化：
- 高耐荷重トレイ：重量部品のスキャンが可能になります。また、一度に多くの部品をスキャンでき、検査時間の短縮に貢献します。
- ダイヤモンドウィンドウ：X線放出部の窓材を従来のベリリウムからダイヤモンドに変更することで、特に低kVでのスキャン時に画像コントラスト向上・ノイズ低減が期待できます。低密度もしくは複合材料のサンプルで高い効果を発揮します。
- 低ドーズコリメータ：X線の照射範囲を限定することで、検査対象ではないサンプルへの照射を抑制し、破損を防止します。半導体デバイスなど繊細な部品を複数個まとめて検査する場合に効果が期待できます。
- ESD対策アップグレード：ESD（静電気放電）対策を施し、IEC 6100-4-2やANSI/ESD S20.20、JEDEC JESD625の各規格に準拠した安全な検査が可能になります。
- 高倍率CTアーム：トレイを取り外すことでサンプルとX線放出部との距離が近くなり、より高倍率でのスキャンが可能になります。
XT V シリーズは、PCB、BGA、チップ、半導体デバイスなど、様々な電子部品の検査用途において、今後も卓越したソリューションを提供し続けます。
強化されたXT V シリーズの詳細については、ニコンの公式ウェブサイトをご覧ください。
【本件に関するお問い合わせ先】
株式会社ニコンソリューションズ
産業機器営業本部
Tel 03-3773-8911
