第38回 エレクトロテスト ジャパン -エレクトロニクス検査・試験・測定展-

外観・X線検査装置、テスタ、環境試験・信頼性試験装置、各種分析装置など、あらゆる検査・試験装置の主要メーカーが一堂に出展する「エレクトロテスト ジャパン」に出展しました。
2024年1月24日(水)~26日(金)
10:00~17:00
東京ビッグサイト
第38回 エレクトロテストジャパン エレクトロニクス検査・試験・測定展 会期:2024年1月24日(水)~26日(金) 会場:東京ビッグサイト

ブースでは、自動車部品から基板などの電子部品まで、さまざまなサンプルの寸法や角度などの測定が可能な画像測定機や測定顕微鏡を実機・パネル展示、また、内部欠陥の非破壊検査、寸法検査、肉厚解析などが可能なX線/CT検査装置をパネル展示し、ニコンが提案する検査ソリューションをご紹介しました。


<主な出展製品>

画像測定システム:NEXIV VMZ-Sシリーズ
さまざまなサンプルをカバーする汎用モデル
専用光学系とTTLレーザーAFを標準搭載。サンプルサイズに応じてストロークの異なる3モデルをラインアップしています。多様な測定ニーズに対して高速·高精度な測定を実現します。

X線/CT検査装置:VOXLS 30シリーズ
自動化に対応し、効率的な設置面積でパッケージ化され、225 kV、320 kV、450 kVのソースエネルギーと組み合わされます。低密度から高密度までの小型から中型サンプルに最適なソリューションです。

測定顕微鏡:MM-400Nシリーズ
測定の高精度化やシステムとの連携など、さまざまな機能を強化した測定顕微鏡です。あらゆる産業分野での測定に対応します。

システム実体顕微鏡:SMZ1270i
高倍率・高ズーム比、優れた色収差補正など、卓越した光学性能と快適な操作性を両立。平行光学系の特長である拡張性を生かし、デジタルイメージングなどの幅広いアプリケーションに対応可能なスタンダードモデルです。

イベント詳細

場所
東京ビッグサイト
イベントタイプ
展示会
日程
2024年1月24日(水)~26日(金)
時間
10:00~17:00
規模
E14-42
発表者
株式会社ニコンソリューションズ
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