
Products and promotions may differ based on your selected region.

Les optiques Nikon CFI60-2 d’excellente qualité fournissent des images parfaites aux deux oculaires et aux caméras d’imagerie numérique avec logiciel d’analyse de Nikon. La combinaison de ces optiques haute performance avec un système d’éclairage de pointe permet d’obtenir des images d’un contraste et d’une résolution remarquable.

Lumière réfléchie : champ clair, fond sombre, polarisé (POL), à contraste interférentiel différentiel (DIC), épifluorescence et interférométrie à double faisceau. Éclairage par lumière transmise : fond clair, fond noir, polarisation, contraste interférentiel différentiel et contraste de phase.

Grâce au positionnement optimal des commandes de l’opérateur et à l’angle variable de l’oculaire, le travail est effectué sans fatigue. L’image droite et redressée permet une observation optimale des matières premières, des semi-conducteurs et des composants industriels.

Utilisées conjointement avec les caméras Digital Sight pour microscopes, elles permettent de capturer efficacement des images haute définition. Les images peuvent être traitées à l’aide du logiciel NIS-Elements afin d’effectuer des mesures et des analyses.

Le microscope détecte et commande la lentille objectif utilisée, l’intensité lumineuse, l’éclairage épiscopique et l’ouverture via une connexion USB au logiciel NIS-Elements de Nikon.

La conception innovante de Nikon autorise des techniques d’imagerie de contraste optique nettes et très contrastées, en fond clair, fond noir, polarisation (POL), contraste interférentiel différentiel (DIC) et interférométrie à deux ondes.

De nombreuses entreprises du secteur des semi-conducteurs font confiance aux chargeurs de wafers de Nikon et les utilisent quotidiennement.






Les applications sont principalement axées sur les tâches d’inspection dans les secteurs de l’électronique et des télécommunications. Les mesures sur les guides d’ondes des antennes sont d’une extrême précision, de même que celles d’autres composants tels que les wafers pour les dispositifs semi-conducteurs ou photovoltaïques et les microsystèmes électromécaniques (MEMS) utilisés dans les smartphones, les gyroscopes et les accéléromètres, par exemple.
| L300N | L200N | L300ND | L200ND | ||
| Illumination type | Episcopic | Episcopic/Diascopic | |||
| Main body | Power sources for motorized control built-in Motorized control for nosepiece, Light intensity control, Aperture diaphragm control, Episcopic/Diascopic change-over (L300ND/L200ND only) |
||||
| Nosepiece | General | Motorized universal sextuple nosepiece | |||
| Centering Function | Yes | - | Yes | - | |
| EPI/DIA changeover | - | - | Yes | Yes | |
| Focusing mechanism | Cross travel | 29 mm | |||
| Coarse | 12.7 mm per rotation (torque adjustable, refocusing mechanism provided) | ||||
| Fine | 0.1 mm per rotation (in 1 μm increments) | ||||
| Episcopic illuminator | 12V-50W halogen lamp light source built in, LV-LL LED Lamphouse Observation methods: Brightfield, Darkfield, Simple polarizing, DIC, Epi-fluorescence (L300N/L300ND/L200ND only) |
||||
| Diascopic illuminator | - | 12V-50W halogen lamp light source built-in LV-LL LED Lamphouse |
|||
| Interface | USB x 1, RS232C (for Intensilight) x 1 | ||||
| Eyepiece tubes | L2-TTA tilting trinocular tube (tilt angle: 0-30 °) L2-TT4A tilting trinocular tube (tilt angle: 0-30 °) with centering and focus adjustment mechanism LV-TI3 trinocular tube (erected image) |
||||
| Stages | L3-S12 14 x 12 stage | L2-S8A 8 x 8 stage | L3-S12 14 x 12 stage | L2-S8A 8 x 8 stage | |
| LV-SHA stage handle adapter attachable to all stages | |||||
| Eyepieces | CFI eyepiece lens series | ||||
| Objective lenses | CFI60-2 / CFI60 objective lens series | ||||
| Antistatic mechanism | 1000-10 V, within 0.2 sec | ||||
| Power consumption | 1.2 A / 90 W | ||||
| Weight (approx.) | Body Only | 38 kg | 31 kg | 40 kg | 31 kg |
Si vous souhaitez obtenir plus de détails sur ce produit ou une description plus complète, notre équipe d’experts vous apportera un complément d’information et, si nécessaire, organisera une visite sur site. Décrivez-nous en détail votre projet et nos experts vous conseilleront sur le meilleur système d’inspection adapté à vos besoins. Veuillez renseigner le formulaire ci-contre et nous vous contacterons dans les plus brefs délais.