La série NWL est une excellente gamme de chargeurs de wafer de semi-conducteurs de Nikon, capables de transférer des wafers de 6″ (150 mm) et de 8″ (200 mm) de diamètre avec une épaisseur allant jusqu’à 100 microns (en option) dans les microscopes Nikon Eclipse L200N et LV150N ou dans le système de mesure vidéo Nikon NEXIV VMZ-S.
Le chargeur de wafers NWL200 associé à un système de mesure vidéo Nikon NEXIV offre une précision, une fiabilité et une rapidité remarquables pour l’inspection des semi-conducteurs dans un environnement de production.
Lorsque l’alimentation électrique est interrompue inopinément, le mandrin à vide du bras macro reste actif, ce qui permet de déposer les wafers en toute sécurité.
L’inspection des motifs de la face avant, du périmètre de la face arrière et de la partie centrale de wafer de semi-conducteur est prise en charge. La vitesse de rotation et l’angle d’inclinaison du wafer sont réglés automatiquement ou manuellement.
Un élévateur rapide de cassettes de wafers doté d’un mécanisme de centrage sans contact permet un alignement véloce et précis des wafers à l’aide d’un système multibras pour les charger et décharger avec la plus grande minutie.
La conception ergonomique du NWL200 facilite son utilisation et son contrôle. La mise en place des wafers dans les encoches et le changement complet des cassettes sont facilités grâce au positionnement à 35 degrés sur la gauche.
Si vous souhaitez obtenir plus de détails sur ce produit ou une description plus complète, notre équipe d’experts vous apportera un complément d’information et, si nécessaire, organisera une visite sur site. Décrivez-nous en détail votre projet et nos experts vous conseilleront sur le meilleur système d’inspection adapté à vos besoins. Veuillez renseigner le formulaire ci-contre et nous vous contacterons dans les plus brefs délais.
