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Microscopes industriels
MICROSCOPES DROITS
ECLIPSE L300ND, L300N et L200ND, L200N
Une gamme de microscopes pour semi-conducteurs idéale pour l’inspection des circuits intégrés (CI), des écrans plats, des dispositifs électroniques à intégration à grande échelle (LSI) et pour de nombreuses autres applications.
MICROSCOPES DROITS
ECLIPSE LV150NA et LV150N
Une série de microscopes droits, polyvalents et modulaires, pour diverses techniques d’observations en épiscopie / réflexion (fond clair, fond noir, DIC, POL, fluorescence, interférométrie), avec des accessoires d’imagerie numérique et de grandes courses de platine XY , idéale pour l’inspection des semi-conducteurs et des matériaux.
MICROSCOPES DROITS
ECLIPSE LV100NDA et LV100ND
Cette série de microscopes droits, flexibles et modulaires, capable de mettre en œuvre de nombreuses techniques d’observations épiscopique et diascopique (transmission et réflexion), et dotée d’accessoires de caméra d’imagerie numérique, est idéale pour l’inspection des matériaux dans de nombreuses applications industrielles.
MICROSCOPES INVERSÉS
ECLIPSE MA200
Le microscope inversé ECLIPSE MA200 est un instrument flexible, modulaire, et au design innovant qui convient parfaitement à l’inspection optique en épiscopie / réflexion. Accompagné d’accessoires d’imagerie numérique, il convient parfaitement aux activités d’inspection des matériaux métallurgiques pour de nombreuses applications industrielles.
MICROSCOPES INVERSÉS
ECLIPSE MA100N
Un microscope inversé polyvalent, compact, abordable et modulaire pour les techniques d’observations en épiscopie / réflexion Accompagné d’une caméra d’imagerie numérique, il convient parfaitement à l’inspection des matériaux métallurgiques pour de nombreuses applications industrielles.
ECLIPSE LV100N POL et Ci-POL
Les microscopes de polarisation sont utilisés pour étudier les propriétés biréfringentes des échantillons anisotropes par l’observation des changements de contraste et de couleur de l’image. Nikon propose des systèmes adaptés aux études quantitatives et qualitatives.
Série NWL200 de chargeurs de wafers
Les modèles entièrement équipés de la série NWL200 répondent à l’ensemble des exigences d’inspection des semi-conducteurs pour des wafers de 6 pouces (150 mm) et 8 pouces (200 mm) de diamètre à l’aide d’un microscope optique ou d’instruments de mesure vidéo, tels que Nikon NEXIV.
Logiciels
Le logiciel NIS-Elements contrôle les caméras numériques Nikon Digital Sight afin de capturer les meilleures images en vue de leur traitement. Il organise les images et les traite de manière logique dans un flux de travail homogène.