ECLIPSE L300ND, L300N y L200ND, L200N

ECLIPSE L300ND, L300N y L200ND, L200NA de Nikon son una gama de microscopios de semiconductores ideales para la inspección de circuitos integrados (IC), pantallas planas (FPD), dispositivos electrónicos de integración a gran escala (LSI) y muchas más aplicaciones.

Microscopios semiconductores avanzados para inspeccionar las últimas fabricaciones

La magnífica óptica de Nikon CFI60-2 ofrece inmejorables imágenes a los dos oculares y a las cámaras de imagenología digital de Nikon con software de análisis La combinación de estas ópticas superiores con un extraordinario sistema de iluminación ofrece imágenes de excelente contraste y resolución.

Nikon ECLIPSE L300N(D) y L200N(D)

Estos microscopios son para una inspección óptica excepcionalmente precisa de obleas (200mm para la serie L200N y 300mm para la serie L300N), retículas y otros sustratos.

Serie óptica CFI60-2 de Nikon

El innovador diseño de Nikon permite el uso de técnicas de imagenología clara incluyendo alto contraste, campo claro, campo oscuro, polarización (POL), contraste de interferencia diferencia. (DIC) y contraste óptico de interferometría de doble haz.

Cámaras Digital Sight de Nikon

El amplio rango de cámaras Digital Sight de Nikon, pueden capturar imágenes de una muestra y llevarlas al software de procesamiento de imágenes en el paquete NIS-Elements, junto con los datos del microscopio sobre el lente del objetivo, con configuración de ampliación e intensidad de luz.

Integración de LV200N y el cargador de obleas NWL200

Los cargadores de obleas de Nikon gozan de buena aceptación y confianza en la industria de los semiconductores y muchas instalaciones están en uso hoy en día.

Puntos destacados del producto

Serie óptica CFI60-2 de Nikon

El innovador diseño de Nikon hace posible el uso de técnicas de imagen claras, incluyendo alto contraste, campo claro, campo oscuro, polarización (POL), contraste de interferencia diferencial (DIC) y contraste óptico de interferometría de doble haz.

Métodos universales de contraste óptico

Luz reflejada: campo claro, campo oscuro, polarización (POL), contraste de interferencia diferencial (DIC), epi-fluorescencia e interferometría de doble haz.
Luz transmitida: campo claro, campo oscuro, polarización, contraste de interferencia diferencial y contraste de fase.

Comunicación digital inteligente

El microscopio detecta y controla el lente del objetivo en uso, la intensidad de la luz, la iluminación episcópica y la apertura a través de una conexión USB al software NIS-Elements de Nikon.

Concepto de diseño ergonómico

El posicionamiento óptimo de los controles del operador y un tubo ocular de ángulo variable permiten un trabajo sin fatiga.
Se proporciona una imagen en la manera y dirección correctas para observar adecuadamente las materias primas, semiconductores y componentes industriales.

Funciones principales

Industrias

Las aplicaciones se centran en las tareas de inspección en los sectores de la electrónica y las telecomunicaciones.

Las guías de onda de antenas se miden con la máxima precisión, así como otros componentes como las obleas para dispositivos semiconductores o fotovoltaicos y sistemas microelectromecánicos (MEMS) utilizados en smartphones, giroscopios y acelerómetros, por citar ejemplos.

Serie L de microscopios verticales

Serie de miras digitales

NIS Elements

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