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Sistemas de rayos X y TC

XT H 225 y XT H 320
Versátiles sistemas de TC microfoco de Nikon para la inspección de alta resolución en I+D y el análisis de fallos de componentes que van desde pequeños conectores de plástico hasta piezas fundidas de aluminio

XT H 450
Solución exclusiva de rayos X microfoco de 450 kV para la inspección de alta resolución de componentes grandes y densos, como piezas producidas mediante fabricación aditiva de metal, álabes de turbinas y piezas fundidas de gran tamaño.

TC de área grande
Sistemas configurables de rayos X y TC de inspección de área grande que admiten varias fuentes y detectores para adaptarse a los requisitos de inspección más exigentes.

XT V 130 y XT V 160
Inspección de radiografía interactiva o TC detalladas de placas de circuito impreso, componentes electrónicos o piezas pequeñas en una amplia gama de industrias.
Tecnología de fuente de rayos X
Fuentes microfoco de hasta 450 kV diseñadas y construidas internamente por Nikon que son el corazón de todos nuestros sistemas de TC.

Soluciones automatizadas
Diversos niveles de automatización para permitir la inspección del primer artículo, el control de calidad o la inspección del 100 % en un ambiente de producción.