La unidad de negocio de Metrología Industrial de Nikon Corporation (https://industry.nikon.com) acaba de introducir una técnica pionera de laminografía computarizada (Computed Laminography, CL) de rayos X, para inspeccionar de manera no destructiva componentes difíciles utilizando los sistemas de tomografía computarizada (TC) que fabrica. El nuevo método denominado Tilted CT –ya disponible–, mejora en gran medida la resolución del vóxel cuando se examinan componentes planos de alta relación de aspecto. También mejora el control de calidad al producir imágenes más claras de las muestras de todo tipo, en las que las zonas densas pueden enmascarar a aquellas que son menos densas.
Al escanear componentes planos, que pueden tener una pequeña zona de interés en el centro que debe inspeccionarse, la TC 3D convencional tiene limitaciones en términos de resolución, porque el eje de rotación del elemento bajo investigación está a 90 grados del haz de rayos X. Por lo tanto, no es factible colocar el componente más cerca de la fuente para aumentar la ampliación de la zona de interés y mejorar la resolución, porque la muestra al girar, chocaría con la fuente.
La innovadora adquisición de datos CL mediante el Tilted CT, evita el problema, permitiendo ajustar el eje de rotación hasta 30 grados, lo que significa que la muestra puede girar completamente debajo de la fuente de rayos X. Gracias a un mayor aumento y a una mejora de la claridad de imagen, se consiguen tiempos de escaneo más rápidos al examinar, por ejemplo, conjuntos de placas de circuito impresos o tarjetas de sonda utilizadas en pruebas automatizadas de obleas. En una prueba comparativa, un escaneo que tomó más de siete horas con un microscopio de rayos X, se completó en menos de una hora con Tilted CT en un sistema XT H 225 ST 2x que cumple con SEMI S2/S8.
La otra ventaja importante de la técnica es su capacidad para eliminar artefactos causados por características de alta densidad en una muestra, que oscurecen las zonas en donde es menor la atenuación de rayos X. Al inclinar el eje de rotación, las zonas de alta atenuación se pueden colocar de modo que puedan girar por debajo o por encima de una zona de interés de menor densidad, en lugar de girar delante de ella.
Esto puede resultar de gran utilidad, por ejemplo cuando se inspeccionan piezas metálicas fabricadas de forma aditiva, mientras aún están unidas a su placa de soporte. Es posible escanear componentes en su totalidad, incluso la parte inferior, inclinando toda la estructura para que la placa de construcción densa gire en el mismo ángulo que el haz cónico de rayos X, eliminando la obstrucción de forma eficaz.
Tilted CT está disponible actualmente para usarse con los sistemas TC de rayos X: XT H 225, XT H 225 ST 2x y M2 de área grande de Nikon. La compañía mantiene su compromiso de ampliar los límites de la tecnología para ofrecer capacidades de imagen sin precedentes y abrir las puertas a nuevas posibilidades en el control de calidad. Tilted CT, junto con una serie de otros métodos de adquisición de datos de rayos X y algoritmos de reconstrucción recientemente introducidos, son testimonio de esa intención.
Acerca de Nikon Metrology
Nikon ofrece una variedad de productos, servicios y soluciones en todo el mundo basados en optoelectrónica avanzada y tecnologías de precisión desarrolladas durante los más de 100 años de historia de la compañía. El grupo sigue creando nuevos valores que contribuyen a la mejora de la calidad de vida y la fabricación en una amplia variedad de formas. La unidad de comercial de Metrología Industrial (Industrial Metrology Business Unit, IMBU) de Nikon ofrece soluciones integradas, optimizadas y de altísima precisión que no solo se personalizan y son económicas, sino que también funcionan a la perfección tan pronto como se implementan. Un desarrollo reciente bajo el estandarte de Fabricación Digital de Nikon es una cooperación más estrecha entre IMBU y la unidad de comercial de Soluciones Digitales (Digital Solutions Business Unit, DSBU) de la corporación, la cual ha lanzado una serie de soluciones ópticas de fabricación aditiva y sustractiva para procesar una amplia variedad de materiales hasta un acabado de superficie submicrónico. www.industry.nikon.com
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