El innovador Tilted CT de Nikon es un método de inspección de laminografía de rayos X que utiliza un eje de rotación en ángulo. Mejora inmensamente la resolución de vóxel para componentes con una alta relación de aspecto. Tilted CT produce un mayor aumento y volúmenes 3D de mayor resolución a partir de miles de imágenes de rayos X en 2D. Se revelan detalles finos previamente ocultos o enmascarados en los métodos tradicionales de TC. La amplificación es mayor, la claridad mejora y la adquisición de datos es más rápida.
A diferencia de la TC en 3D convencional, Tilted CT utiliza un eje de rotación en ángulo. Debido a que el componente puede girar mucho más cerca de la fuente de rayos X, puede enfocarse en características que miden solo decenas de micras, incluso en componentes planos más grandes.
Los cortes en 2D dentro de volúmenes en 3D de Tilted CT permiten el aislamiento de componentes para una inspección no destructiva más clara. Se revelan detalles minúsculos y pequeñas áreas de interés, y se pueden examinar de manera más efectiva que con una radiografía de rayos X.
Tilted CT proporciona vistas completas y sin obstáculos del componente conforme rota en el haz cónico de rayos X, lo que reduce el riesgo de superposición de componentes en ensambles complejos o de enmascaramiento por material de alta densidad.
Los objetos planos se pueden examinar de manera más robusta y eficiente en menos tiempo que con la microscopía de rayos X. En una prueba de comparación, un escaneo con un microscopio de rayos X tomó más de siete horas pero con Tilted CT tomó menos de una hora.
La laminografía, también llamada a veces laminografía computarizada (Computed Laminography, CL), es un tipo de tomografía de rayos X en la que el eje de rotación de la muestra se inclina en un ángulo oblicuo con respecto al haz de rayos X (un eje desde la fuente hasta el detector). De manera similar a la TC, un escaneo de laminografía utiliza miles de imágenes de radiografías de rayos X adquiridas conforme la muestra gira 360 grados para reconstruir un volumen en 3D. El mismo análisis realizado en un conjunto de datos de TC se puede replicar en un conjunto de datos de laminografía.
La radiografía y la laminografía ofrecen imágenes de muy alta resolución ya que las muestras se pueden colocar muy cerca de la fuente de rayos X. Sin embargo, como una técnica en 2D, la radiografía no proporciona profundidad a la imagen y las muestras complejas pueden ser difíciles de visualizar debido a la superposición de componentes. La laminografía, como una técnica de tomografía, mapea la profundidad a través de cientos o miles de planos a lo largo de la muestra.
Ambas son un tipo de tomografía de rayos X pero la diferencia es la orientación en la que gira la muestra durante la adquisición. La muestra gira alrededor de un eje ortogonal al haz de rayos X (un eje desde la fuente hasta el detector) para TC, mientras que, para la laminografía, la muestra gira alrededor de un eje en un ángulo oblicuo al haz de rayos X.
En teoría, cualquier tamaño de componente se puede inspeccionar con Tilted CT, el tamaño del componente y el área de inspección en el componente estarían restringidos por el tamaño del gabinete que se utiliza y los aspectos prácticos de sostener una muestra estacionaria en un ángulo oblicuo. Por ejemplo, una muestra plana de más de 0.5m puede resultar difícil de mantener inmóvil durante la adquisición.
Todos los tipos de componentes se pueden inspeccionar con Tilted CT, pero la técnica se aplica más comúnmente a componentes planos. Esto se debe a que en la TC convencional, la naturaleza de aspecto grande de los componentes planos aumenta la longitud de la trayectoria de los rayos X a lo largo del plano del objeto y el tamaño del componente hace que el eje de rotación se coloque más lejos de la fuente de rayos X para evitar choques. Tilted CT supera ambos fenómenos, de ahí su popularidad para planar.
Los microscopios Tilted CT y los de rayos X logran la capacidad de producir volúmenes en 3D de alta resolución en muestras grandes. Aunque los microscopios de rayos X pueden lograr un mayor aumento que es posible con el Tilted CT, sus tiempos de adquisición de datos son varias horas más largos que un escaneo del Tilted CT. Los microscopios de rayos X también son un sistema dedicado, lo que significa que tienen un costo considerablemente más alto y no ofrecen toda la flexibilidad que ofrece un sistema de tomografía computarizada de rayos X de Nikon, con técnicas de adquisición de radiografía y TC que ofrecen soluciones para otras aplicaciones en el laboratorio.
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