Tilted CT

Tilted CT: inspección de laminografía de alta resolución

Tilted CT, la tecnología de laminografía de Nikon, facilita una inspección de control de calidad más rápida y confiable para componentes planares, planos y de alta relación de aspecto.

Resolución, claridad, velocidad

El innovador Tilted CT de Nikon es un método de inspección de laminografía de rayos X que utiliza un eje de rotación en ángulo. Mejora considerablemente la resolución de vóxel para componentes con una alta relación de aspecto. Tilted CT produce un mayor aumento y volúmenes 3D de mayor resolución a partir de miles de imágenes de rayos X en 2D. Se revelan pequeños detalles que antes quedaban ocultos o enmascarados en los métodos tradicionales de TC. La ampliación es mayor, la claridad mejora y la adquisición de datos es más rápida.

Puntos destacados del producto

Rotación inclinada

A diferencia de la TC en 3D convencional, Tilted CT utiliza un eje de rotación en ángulo. Debido a que el componente puede girar mucho más cerca de la fuente de rayos X, se pueden enfocar características con un tamaño de sólo decenas de micras, incluso en componentes planos de mayor tamaño.

Aislar áreas de interés precisas

Los cortes 2D dentro de los volúmenes 3D de Tilted CT, permiten aislar los componentes para una inspección no destructiva más clara. Se revelan detalles minúsculos y pequeñas áreas de interés que pueden examinarse con mayor eficacia que con una radiografía de rayos X.

Enfoque sin impedimentos

Tilted CT proporciona vistas completas y sin obstáculos del componente a medida que gira a través del haz cónico de rayos X, lo que reduce el riesgo de superposición de componentes en ensambles complejos o de enmascaramiento por material de alta densidad.

Inspeccionar con mayor eficacia y rapidez

Los objetos planos se pueden examinar de manera más robusta y eficiente en menos tiempo que con la microscopía de rayos X. En una prueba de comparación, un escaneo con un microscopio de rayos X tomó más de siete horas, en cambio, con Tilted CT se tardó menos de una hora.

Aplicaciones industriales

Preguntas frecuentes

La laminografía, también llamada a veces laminografía computarizada (Computed Laminography, CL), es un tipo de tomografía de rayos X en la que el eje de rotación de la muestra se inclina en un ángulo oblicuo con respecto al haz de rayos X (un eje desde la fuente hasta el detector). De manera similar a la TC, un escaneo de laminografía utiliza miles de imágenes de radiografías de rayos X adquiridas conforme la muestra gira 360 grados para reconstruir un volumen en 3D. El mismo análisis realizado en un conjunto de datos de TC se puede replicar en un conjunto de datos de laminografía.

La radiografía y la laminografía ofrecen imágenes de muy alta resolución, ya que las muestras se pueden colocar muy cerca de la fuente de rayos X.  Sin embargo, como una técnica en 2D, la radiografía no proporciona profundidad a la imagen y las muestras complejas pueden ser difíciles de visualizar debido a la superposición de componentes.  La laminografía, como una técnica de tomografía, mapea la profundidad a través de cientos o miles de planos a lo largo de la muestra.

Ambas son un tipo de tomografía de rayos X, pero la diferencia es la orientación en la que gira la muestra durante la adquisición.  En el caso de la TC, la muestra gira alrededor de un eje ortogonal al haz de rayos X (un eje desde la fuente hasta el detector), mientras que en la laminografía, la muestra gira alrededor de un eje en un ángulo oblicuo al haz de rayos X.

En teoría, se puede inspeccionar cualquier tamaño de componente con Tilted CT, el tamaño del componente y el área de inspección en el componente estarían restringidos por el tamaño de la cabina que se utiliza y los aspectos prácticos de mantener una muestra estacionaria en un ángulo oblicuo.  Por ejemplo, una muestra plana de más de 0.5m puede resultar difícil de mantener inmóvil durante la adquisición.

Todos los tipos de componentes se pueden inspeccionar con Tilted CT, pero la técnica se aplica más comúnmente a componentes planos.  Esto se debe a que, en la TC convencional, la naturaleza de aspecto grande de los componentes planos aumenta la longitud de la trayectoria de los rayos X a lo largo del plano del objeto y el tamaño del componente hace que el eje de rotación se coloque más lejos de la fuente de rayos X para evitar colisiones.  Tilted CT supera ambos fenómenos, de ahí su popularidad para componentes planos.

Tilted CT y los microscopios de rayos X son capaces de producir volúmenes 3D de alta resolución en muestras de gran tamaño.  Aunque los microscopios de rayos X pueden lograr un aumento mayor que el Tilted CT, sus tiempos de adquisición de datos son varias horas más largos que los de un escaneo del Tilted CT.  Los microscopios de rayos X también son un sistema dedicado, lo que significa que tienen un costo considerablemente mayor y no ofrecen toda la flexibilidad que ofrece un sistema de TC de rayos X de Nikon, con técnicas de adquisición de radiografía y TC que ofrecen soluciones para otras aplicaciones en el laboratorio.

Serie XT H

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TC automatizada

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