X. Tract
X. Tractは斜めCT(ラミノグラフィ)と呼ばれるコンピュータトモグラフィー技術を使ったCT撮影機能です。高解像度・高倍率なデジタルスライスを生成、複雑な多層構造を持つ電子部品の断面画像を、部品そのものを破壊することなく、制御用ソフトウェア内で任意の切断位置や方向を指定して確認することができます。
ニコンの先進的なイメージングエンジン「C.Clear」は、あらゆる密度のサンプルでイメージをインテリジェントに最適化。全方向から見た高品質・高解像度のX線イメージを生成します。手動による調整もほとんど必要ありません。
High.Contrast Filterは、1枚の画像の高コントラストと低コントラストの両方の領域で優れた画像品質を提供することにより、素画像では見え難かった詳細箇所も鮮明に表現します。オペレータは、被検物の内部情報を迅速に知ることができるようになるため、生産性の向上が可能です
BGA、ボンドワイヤ、PTH、および多層ボード上のPoPなどの複雑なパッケージの高度な測定と分析が可能であり、合格/不合格の検査とレポートが自動化されています。
Inspect-Xを使用したXT Vシリーズの自動検査モードは、画像取得から解析結果の出力までを自動化することが可能です。PCBA、半導体部品、複雑な高密度基板などの繰り返し検査に最適です。
この製品の詳細については、右側のフォームよりお問合せください。
「(必須)」は必須フィールドを示します