ニコン産業機器事業部 (https://industry.nikon.com/ja-jp) では、半導体ベアウェハーメーカーの品質管理をサポートするために、ウェハ表面にレーザーマーキングされたウェハIDコードを高精度かつ高速で測定するソリューションを提供しています。
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カタログ
総合
X線/CT検査装置
レーザーレーダ
3Dレーザースキャナー
画像測定システム
光学測定機
顕微鏡
ケーススタディ
半導体ウェハを低コストで迅速に検査
「ウェハ自動計測ソリューション」の導入により、集積回路（IC）製造におけるウェハレベルの品質管理を目的とした自動光学検査（AOI）装置設置の資本投資が半減しました。
カーレースのトラック上でも製造現場でもニコンの画像測定システムがRoush Yates Engines社の作業を迅速化
Roush Yates Engines社は、ニコンの画像測定システム iNEXIV VMA-4540を採用し、測定プロセスや検査プロセスを改善して完成度を向上させることを目指しました。
画像測定システムが、リードフレームのパッケージング工程においてリアルタイム品質管理を実現
集積回路（IC）や電子デバイスの製造において、リードフレームは最もコスト効率の高い配線技術で、多くの半導体パッケージ組立に利用されています。配線後の検査には、従来、測定顕微鏡等の手動操作の装置が用いられてきました。
X線CT装置が、ロンドン自然史博物館の研究活動・データのアーカイブ化を加速
ロンドン自然史博物館（Natural History Museum、以下NHM）は、標本のX線CTスキャンを自動化して行っている数少ない博物館の一つです。
画像測定機は、医療製品メーカーの品質管理のパフォーマンスを2倍にします
医療業界向けの外科用針と精密部品のドイツの大手メーカーであるFeuersteinGmbHのベルリン工場では、製品検査に真の革命が起こりました。
X線テクノロジーが、植物に関する新しい書籍を生み出す契機に
Nikon Metrologyの産業用X線装置は、「7年経ってもほとんど手間をかけずに機能し」、文字通りノルウェーの植物相を新しい視点で見ることができます
