ニコン産業機器事業部 (https://industry.nikon.com/ja-jp) では、半導体ベアウェハーメーカーの品質管理をサポートするために、ウェハ表面にレーザーマーキングされたウェハIDコードを高精度かつ高速で測定するソリューションを提供しています。
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ニコン産業機器事業部 (https://industry.nikon.com/ja-jp) では、半導体ベアウェハーメーカーの品質管理をサポートするために、ウェハ表面にレーザーマーキングされたウェハIDコードを高精度かつ高速で測定するソリューションを提供しています。
「ウェハ自動計測ソリューション」の導入により、集積回路(IC)製造におけるウェハレベルの品質管理を目的とした自動光学検査(AOI)装置設置の資本投資が半減しました。
Roush Yates Engines社は、ニコンの画像測定システム iNEXIV VMA-4540を採用し、測定プロセスや検査プロセスを改善して完成度を向上させることを目指しました。
集積回路(IC)や電子デバイスの製造において、リードフレームは最もコスト効率の高い配線技術で、多くの半導体パッケージ組立に利用されています。配線後の検査には、従来、測定顕微鏡等の手動操作の装置が用いられてきました。
ロンドン自然史博物館(Natural History Museum、以下NHM)は、標本のX線CTスキャンを自動化して行っている数少ない博物館の一つです。
医療業界向けの外科用針と精密部品のドイツの大手メーカーであるFeuersteinGmbHのベルリン工場では、製品検査に真の革命が起こりました。
Nikon Metrologyの産業用X線装置は、「7年経ってもほとんど手間をかけずに機能し」、文字通りノルウェーの植物相を新しい視点で見ることができます