LiB.Overhang Analysis

A l’aide d’une IA innovante, d’algorithmes de reconstruction internes et d’une technologie avancée de source de rayons X, le recouvrement d’anode peut désormais être mesuré en 3D plus rapidement et avec davantage de précision qu’auparavant.

Points clefs du produit

Entièrement automatisé

Favorisant une reproductibilité accrue, l’analyse automatique fournit des résultats numériques du début à la fin du processus, sans avoir recours à un opérateur.

Amélioration de la productivité

La technologie d’analyse basée sur l’IA est particulièrement fiable car très tolérante au bruit de mesure, et ce, même sur des données tomographiques obtenues à haute fréquence en production.

Conçu pour une utilisation en atelier

Les résultats pouvant être importés pour interprétation logicielle et permettant une intégration dans des systèmes de contrôle de processus, optimisent le processus de production

Fonctions clefs

LiB.Overhang Analysis

Série XT H

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XT H 225 ST 2x

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