La magnífica óptica de Nikon CFI60-2 ofrece inmejorables imágenes a los dos oculares y a las cámaras de imagenología digital de Nikon con software de análisis La combinación de estas ópticas superiores con un extraordinario sistema de iluminación ofrece imágenes de excelente contraste y resolución.
Estos microscopios son para una inspección óptica excepcionalmente precisa de obleas (200mm para la serie L200N y 300mm para la serie L300N), retículas y otros sustratos.
El innovador diseño de Nikon permite el uso de técnicas de imagenología clara incluyendo alto contraste, campo claro, campo oscuro, polarización (POL), contraste de interferencia diferencia. (DIC) y contraste óptico de interferometría de doble haz.
El amplio rango de cámaras Digital Sight de Nikon, pueden capturar imágenes de una muestra y llevarlas al software de procesamiento de imágenes en el paquete NIS-Elements, junto con los datos del microscopio sobre el lente del objetivo, con configuración de ampliación e intensidad de luz.
Los cargadores de obleas de Nikon gozan de buena aceptación y confianza en la industria de los semiconductores y muchas instalaciones están en uso hoy en día.
El innovador diseño de Nikon hace posible el uso de técnicas de imagen claras, incluyendo alto contraste, campo claro, campo oscuro, polarización (POL), contraste de interferencia diferencial (DIC) y contraste óptico de interferometría de doble haz.
Luz reflejada: campo claro, campo oscuro, polarización (POL), contraste de interferencia diferencial (DIC), epi-fluorescencia e interferometría de doble haz.
Luz transmitida: campo claro, campo oscuro, polarización, contraste de interferencia diferencial y contraste de fase.
El microscopio detecta y controla el lente del objetivo en uso, la intensidad de la luz, la iluminación episcópica y la apertura a través de una conexión USB al software NIS-Elements de Nikon.
El posicionamiento óptimo de los controles del operador y un tubo ocular de ángulo variable permiten un trabajo sin fatiga.
Se proporciona una imagen en la manera y dirección correctas para observar adecuadamente las materias primas, semiconductores y componentes industriales.
Las aplicaciones se centran en las tareas de inspección en los sectores de la electrónica y las telecomunicaciones.
Las guías de onda de antenas se miden con la máxima precisión, así como otros componentes como las obleas para dispositivos semiconductores o fotovoltaicos y sistemas microelectromecánicos (MEMS) utilizados en smartphones, giroscopios y acelerómetros, por citar ejemplos.
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