Estos sistemas combinan la adaptabilidad necesaria en el laboratorio, con funciones únicas como Rotating.Target 2.0 de 225 kV, el modo de adquisición TC Half.Turn y Auto.Filament Control para reducir el tiempo del ciclo y mejorar el tiempo productivo cuando se utiliza para inspección de las series en el área de producción.
Gracias a la posibilidad de elegir la fuente, los objetivos, las estrategias de escaneo TC y las opciones como el ajuste motorizado de distancia de la fuente al detector, los sistemas XT H son versátiles y se adaptan a un amplio rango de tareas de inspección.
Los objetos altos se pueden escanear en un solo proceso de adquisición, eliminando los artefactos introducidos por el haz cónico y el pegado de imágenes de escaneo múltiple. Esto también ofrece el beneficio adicional de escanear los objetos con mayor aumento, lo que da como resultado una resolución significativamente mayor.
Permite una operación continua de hasta 450 W con una resolución hasta tres veces más para la misma potencia, o recolección de datos tres veces más rápida para una resolución específica.
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| XT H 225 Para la inspección de piezas pequeñas a medianas | XT H 225 ST 2x Sistema flexible para una variedad de aplicaciones | MCT225 Metrología con tomografía computarizada de rayos X de alta precisión |
| Tamaño de la pieza | Tamaño de la pieza | Tamaño de la pieza |
| Densidad de la pieza | Densidad de la pieza | Densidad de la pieza |
| Precisión | Precisión | Precisión |
| Energía | Energía | Energía |
| Versatilidad | Versatilidad | Versatilidad |
| Superficie ocupada | Superficie ocupada | Superficie ocupada |
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