Serie de cargadores de obleas NWL200

Los cargadores de obleas NWL200 innovadores y con todas las funciones de Nikon admiten una inspección completa de obleas de semiconductores de 6" (150mm) y 8" (200mm) de diámetro mediante microscopio óptico o sistemas de medición por video, por ejemplo, Nikon NEXIV.
NWL_L200N

Cargador sofisticado y confiable para manejar una variedad de obleas

La serie NWL es una excelente línea de cargadores de obleas de semiconductores de Nikon capaces de transferir obleas de 6″ (150mm) y 8″ (200mm) de diámetro hasta un grosor de 100 micras (opcional) a microscopios Nikon Eclipse L200N y LV150N o a un sistema de medición por video NEXIV VMZ-S.

Integración con NEXIV – Video metrología

El cargador de obleas NWL200 integrado junto con un sistema de medición de video Nikon NEXIV proporciona alta precisión, exactitud y velocidad para la inspección de semiconductores en un entorno de producción.

Puntos destacados del producto

Alta confiabilidad en la producción de semiconductores

Cuando la fuente de alimentación se interrumpe inesperadamente, el mandril de vacío del brazo macro permanece activo, permitiendo la extracción segura de la oblea.

NWL_L200N

Funciones de inspección de macros

Se admite el patrón del lado frontal de la oblea semiconductora, la periferia posterior y la inspección del área central. La velocidad de rotación de la oblea y el ángulo de inclinación se configuran de forma automática o manual.

Diseñado para un rendimiento máximo

Un rápido elevador de cassettes de obleas con un mecanismo de centrado sin contacto permite una alineación rápida y precisa de las obleas mediante un sistema de varios brazos para cargar y descargar obleas con la máxima precisión.

Diseño ergonómico

NWL200 está diseñado ergonómicamente para facilitar su operación y control.

Posicionado a 35 grados a la izquierda, la ubicación de la oblea en la ranura y el intercambio completo del casete son fáciles.

Funciones principales

Cargador de obleas para inspección de circuitos integrados NWL200 

Productos relacionados

Serie NEXIV VMZ-S

La serie NEXIV VMZ-S de sistemas de medición por video de Nikon ofrece alta precisión, velocidad y facilidad de uso para aplicaciones de inspección hasta el nivel micro.
Descubra el producto
ECLIPSE-LV150NA-and-150N_LEDlamp+LV150

ECLIPSE LV150NA y LV150N

Una serie de microscopios verticales, modulares y flexibles para varias técnicas de contraste óptico episcópico (BF-DF-DIC-POL-Fluorescencia-interferometría). Junto con accesorios de imagenología digital y los grandes recorridos X-Y de la platina, los instrumentos son ideales para actividades de inspección de materiales y semiconductores.
Descubra el producto

ECLIPSE L300ND, L300N y L200ND, L200N

ECLIPSE L300ND, L300N y L200ND, L200NA de Nikon son una gama de microscopios de semiconductores ideales para la inspección de circuitos integrados (IC), pantallas planas (FPD), dispositivos electrónicos de integración a gran escala (LSI) y muchas más aplicaciones.
Descubra el producto

Hable con nosotros sobre este producto

Si desea más detalles sobre este producto o una descripción más completa, nuestro equipo de expertos le proporcionará información adicional y si es necesario, concertará una visita in situ.

Hable con nosotros en detalle sobre su proyecto y nuestros expertos le asesorarán sobre el mejor sistema de inspección para cumplir con sus necesidades.

Llene el formulario al lado y nos pondremos en contacto con usted en breve.