Microscopios industriales

MICROSCOPIOS VERTICALES

ECLIPSE LV100NDA LED y LV100ND LED

Con fuente de luz LED incorporada, esta serie de microscopios verticales son capaces de realizar amplias observaciones episcópicas y diascópicas, y son ideales para la inspección de materiales en muchas aplicaciones industriales.

MICROSCOPIOS POLARIZADORES

ECLIPSE LV100N POL LED y Ci-POL

Estos modelos ofrecen el máximo nivel de calidad óptica, operabilidad y estabilidad para la microscopía de polarización.

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MICROSCOPIOS VERTICALES

ECLIPSE LV150NA y LV150N

Una serie de microscopios verticales, modulares y flexibles para varias técnicas episcópicas de contraste óptico (BF-DF-DIC-POL-Fluorescencia-Interferometría), junto con accesorios de imágenes digitales y platina grande con recorridos X-Y, ideal para actividades de inspección de materiales y semiconductores.

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MICROSCOPIOS VERTICALES

ECLIPSE L300ND, L300N y L200ND, L200N

Una gama de microscopios de semiconductores ideales para la inspección de circuitos integrados (IC), pantallas planas (FPD), dispositivos electrónicos de integración a gran escala (LSI) y muchas aplicaciones más.

MICROSCOPIOS INVERTIDOS

ECLIPSE MA200

ECLIPSE MA200 se basa en un innovador concepto de diseño de caja, que ofrece un microscopio invertido, modular y flexible para la inspección de contraste óptico episcópico. Junto con los accesorios de imagen digital, es ideal para actividades de inspección de materiales metalúrgicos en muchas aplicaciones industriales.

MA100N
MICROSCOPIOS INVERTIDOS

ECLIPSE MA100N

Un microscopio invertido modular flexible, compacto y económico para técnicas episcópicas de contraste óptico. Junto con los accesorios de la cámara de imagen digital, es ideal para la inspección de materiales metalúrgicos en muchas aplicaciones industriales.

NWL_L200N

Serie de cargadores de obleas NWL200

Los modelos de la serie NWL200 con todas las funciones admiten la gama completa de requisitos de inspección para obleas de semiconductores de 6 pulgadas (150mm) y 8 pulgadas (200mm) de diámetro utilizando microscopios ópticos o instrumentos de medición por video, por ejemplo, Nikon NEXIV.

Software_LV150N+DSFi3+PC

Software

El software NIS Elements administra las cámaras Nikon Digital Sight para capturar las mejores imágenes para su procesamiento. Organiza imágenes, las procesa de forma lógica y en un flujo de trabajo fluido.