Microscopios industriales

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MICROSCOPIOS VERTICALES

ECLIPSE L300ND, L300N y L200ND, L200N

Una gama de microscopios de semiconductores ideales para la inspección de circuitos integrados (IC), pantallas planas (FPD), dispositivos electrónicos de integración a gran escala (LSI) y muchas aplicaciones más.

ECLIPSE-LV150NA-and-150N_LEDlamp+LV150
MICROSCOPIOS VERTICALES

ECLIPSE LV150NA y LV150N

Una serie de microscopios verticales, modulares y flexibles para varias técnicas episcópicas de contraste óptico (BF-DF-DIC-POL-Fluorescencia-Interferometría), junto con accesorios de imágenes digitales y platina grande con recorridos X-Y, ideal para actividades de inspección de materiales y semiconductores.

ECLIPSE-LV100NDA-LV100ND_LEDlamp+LV100ND
MICROSCOPIOS VERTICALES

ECLIPSE LV100NDA y LV100ND

Esta serie de microscopios flexibles, modulares y verticales, con capacidad para amplias técnicas de contraste óptico episcópico y diascópico y con accesorios de cámara de imágenes digitales, es ideal para la inspección de materiales en muchas aplicaciones industriales.

MICROSCOPIOS INVERTIDOS

ECLIPSE MA200

ECLIPSE MA200 se basa en un innovador concepto de diseño de caja, que ofrece un microscopio invertido, modular y flexible para la inspección de contraste óptico episcópico. Junto con los accesorios de imagen digital, es ideal para actividades de inspección de materiales metalúrgicos en muchas aplicaciones industriales.

MA100N
MICROSCOPIOS INVERTIDOS

ECLIPSE MA100N

Un microscopio invertido modular flexible, compacto y económico para técnicas episcópicas de contraste óptico. Junto con los accesorios de la cámara de imagen digital, es ideal para la inspección de materiales metalúrgicos en muchas aplicaciones industriales.

ECLIPSE LV100N POL y Ci-POL

Una serie de microscopios polarizadores que se utilizan para observar las propiedades birrefringentes de especímenes anisotrópicos mediante la observación del contraste de la imagen y los cambios de color. Nikon ofrece sistemas para estudios tanto cuantitativos como cualitativos.

NWL_L200N

Serie de cargadores de obleas NWL200

Los modelos de la serie NWL200 con todas las funciones admiten la gama completa de requisitos de inspección para obleas de semiconductores de 6 pulgadas (150mm) y 8 pulgadas (200mm) de diámetro utilizando microscopios ópticos o instrumentos de medición por video, por ejemplo, Nikon NEXIV.

Software_LV150N+DSFi3+PC

Software

El software NIS Elements administra las cámaras Nikon Digital Sight para capturar las mejores imágenes para su procesamiento. Organiza imágenes, las procesa de forma lógica y en un flujo de trabajo fluido.