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Microscopios industriales
MICROSCOPIOS VERTICALES
ECLIPSE L300ND, L300N y L200ND, L200N
Una gama de microscopios de semiconductores ideales para la inspección de circuitos integrados (IC), pantallas planas (FPD), dispositivos electrónicos de integración a gran escala (LSI) y muchas aplicaciones más.
MICROSCOPIOS VERTICALES
ECLIPSE LV150NA y LV150N
Una serie de microscopios verticales, modulares y flexibles para varias técnicas episcópicas de contraste óptico (BF-DF-DIC-POL-Fluorescencia-Interferometría), junto con accesorios de imágenes digitales y platina grande con recorridos X-Y, ideal para actividades de inspección de materiales y semiconductores.
MICROSCOPIOS VERTICALES
ECLIPSE LV100NDA y LV100ND
Esta serie de microscopios flexibles, modulares y verticales, con capacidad para amplias técnicas de contraste óptico episcópico y diascópico y con accesorios de cámara de imágenes digitales, es ideal para la inspección de materiales en muchas aplicaciones industriales.
MICROSCOPIOS INVERTIDOS
ECLIPSE MA200
ECLIPSE MA200 se basa en un innovador concepto de diseño de caja, que ofrece un microscopio invertido, modular y flexible para la inspección de contraste óptico episcópico. Junto con los accesorios de imagen digital, es ideal para actividades de inspección de materiales metalúrgicos en muchas aplicaciones industriales.
MICROSCOPIOS INVERTIDOS
ECLIPSE MA100N
Un microscopio invertido modular flexible, compacto y económico para técnicas episcópicas de contraste óptico. Junto con los accesorios de la cámara de imagen digital, es ideal para la inspección de materiales metalúrgicos en muchas aplicaciones industriales.
ECLIPSE LV100N POL y Ci-POL
Una serie de microscopios polarizadores que se utilizan para observar las propiedades birrefringentes de especímenes anisotrópicos mediante la observación del contraste de la imagen y los cambios de color. Nikon ofrece sistemas para estudios tanto cuantitativos como cualitativos.
Serie de cargadores de obleas NWL200
Los modelos de la serie NWL200 con todas las funciones admiten la gama completa de requisitos de inspección para obleas de semiconductores de 6 pulgadas (150mm) y 8 pulgadas (200mm) de diámetro utilizando microscopios ópticos o instrumentos de medición por video, por ejemplo, Nikon NEXIV.
Software
El software NIS Elements administra las cámaras Nikon Digital Sight para capturar las mejores imágenes para su procesamiento. Organiza imágenes, las procesa de forma lógica y en un flujo de trabajo fluido.