Nikon presenta la Serie NEXIV VMF-K, un sistema de medición por video de alto rendimiento, que mejora significativamente la capacidad de las mediciones.
TOKIO – Nikon Corporation (Nikon) ha lanzado la Serie NEXIV VMF-K, un sistema de medición por video de nueva generación diseñado para satisfacer las crecientes demandas de inspección de semiconductores y componentes electrónicos.
Basándose en el éxito de la Serie VMZ–K, la Serie NEXIV VMF-K ofrece importantes ventajas para una amplia gama de industrias, además de la fabricación de semiconductores, incluido el empaquetado avanzado, la producción de sustratos, la inspección de obleas y la inspección de tarjetas de sonda.
A medida que los semiconductores se hacen más pequeños e integrados, los procesos de inspección son cada vez más importantes para mantener la calidad. La Serie NEXIV VMF-K aborda este desafío al proporcionar mediciones estables de dimensiones a nivel de micras, mejorando significativamente el rendimiento; lo que permite un estricto control de calidad en la fabricación de dispositivos semiconductores.
La nueva Serie NEXIV VMF-K está compuesta por la VMF-K3040, que sustituye a la VMZ-K3040, y la VMF-K6555, que reemplaza a la VMZ-K6555.
Las principales ventajas de la Serie NEXIV VMF-K incluyen:
- Rendimiento de medición mejorado: La Serie VMF-K obtiene un rendimiento de medición 1.5 veces mayor en comparación con el modelo VMZ-K anterior (de acuerdo con las condiciones de medición estándar de Nikon); lo que reduce significativamente el tiempo de medición aumentando la productividad.
- Óptica avanzada: Equipada con un sistema óptico confocal, la Serie VMF-K permite la medición simultánea en 2D y de altura dentro del campo de visión, logrando un rendimiento significativamente mayor en comparación con la medición de altura utilizando solamente imágenes de campo claro.
- Fuente de luz mejorada: La fuente de luz confocal se ha cambiado de una lámpara de xenón a un LED, aumentando la vida útil de 3,000 a 30,000 horas. Dicha mejora aumenta la eficiencia operativa y reduce la necesidad de reemplazar las lámparas.
- Gama de modelos más amplia: La serie incluye ahora un modelo de lente objetivo 45x estandarizado, para satisfacer las demandas avanzadas de medición de semiconductores para mediciones aún más precisas.
- Conformidad con SEMI S2/S8: La Serie VMF-K cumple con los estándares de seguridad de la industria para equipos de fabricación de semiconductores cuando se instala adecuadamente de acuerdo con las directrices SEMI S2/S8.
- Nueva función de software: La serie ofrece la función de mostrar el tiempo restante durante las mediciones.
- Nuevo diseño exterior: La serie presenta un elegante diseño de fábrica con tonos negros y plateados.
“Nos complace presentar la Serie NEXIV VMF-K, una solución líder en la industria que satisface las crecientes necesidades de medición más precisa y de alta velocidad en la fabricación de semiconductores y componentes electrónicos”; declaró un vocero de Nikon.
“Al mejorar significativamente el rendimiento de las mediciones y mantener una gran precisión, nuestro nuevo sistema permite a los fabricantes mejorar sus procesos de control de calidad y acelerar el desarrollo de productos ante la creciente miniaturización e integración de los dispositivos de los semiconductores.”
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