Mikroskop Industri

ECLIPSE-L300nd-l300n-l200nd-l200n_L300Na
MIKROSKOP TEGAK

ECLIPSE L300ND, L300N dan L200ND, L200N

Serangkaian mikroskop semikonduktor yang ideal untuk pemeriksaan sirkuit terpadu (IC), layar panel datar (FPD), perangkat elektronik integrasi skala besar (LSI), dan masih banyak lagi penerapan lainnya.

ECLIPSE-LV150NA-and-150N_LEDlamp+LV150
MIKROSKOP TEGAK

ECLIPSE LV150NA dan LV150N

Serangkaian mikroskop tegak yang fleksibel, modular, dan untuk berbagai teknik kontras optik episcopic (BF-DF-DIC-POL-Fluoresensi-Interferometri). Dilengkapi dengan aksesori pencitraan digital dan stage X-Y yang besar, instrumen ini sempurna untuk kegiatan pemeriksaan semikonduktor dan material.

ECLIPSE-LV100NDA-LV100ND_LEDlamp+LV100ND
MIKROSKOP TEGAK

ECLIPSE LV100NDA and LV100ND

Mikroskop tegak yang fleksibel dan modular dari Nikon ini dirancang untuk teknik kontras optik episcopic dan diascopic. Instrumen ini dapat dipasangkan dengan aksesori kamera pencitraan digital dan ideal untuk pemeriksaan material dalam banyak penerapan industri.

MIKROSKOP INVERTED

ECLIPSE MA200

ECLIPSE MA200 dirancang berdasarkan konsep desain kotak yang inovatif, menghadirkan mikroskop inverted yang fleksibel dan modular untuk pemeriksaan kontras optik episcopic. Mikroskop ini, dipadukan dengan aksesori pencitraan digital, menjadikannya sempurna untuk kegiatan pemeriksaan material metalurgi dalam banyak penerapan industri.

MA100N
MIKROSKOP INVERTED

ECLIPSE MA100N

Mikroskop inverted untuk teknik kontras optik episcopic yang dapat digunakan dengan berbagai aksesori kamera pencitraan digital. Ekonomis, dinamis, ringkas, dan modular, alat ini ideal untuk pemeriksaan material metalurgi dalam beragam penerapan industri.

ECLIPSE LV100N POL dan Ci-POL

Serangkaian mikroskop polarisasi yang digunakan untuk meneliti sifat birefringent dari spesimen anisotropik dengan mengamati kontras gambar dan perubahan warna. Nikon menawarkan sistem baik untuk studi kuantitatif maupun kualitatif.

NWL_L200N

Wafer Loader Seri NWL200

Model seri NWL200 berfitur lengkap ini mendukung berbagai persyaratan pemeriksaan untuk wafer semikonduktor berdiameter 6 inci (150 mm) dan 8 inci (200 mm) dengan menggunakan mikroskop optik atau perangkat pengukur video, misalnya Nikon NEXIV.

Software_LV150N+DSFi3+PC

Perangkat Lunak

Perangkat lunak NIS-Elements mengoperasikan kamera Nikon Digital Sight untuk menangkap gambar terbaik untuk diolah. Perangkat lunak ini akan menata gambar yang diambil dan mengolahnya secara logis dengan proses kerja tanpa hambatan.