Les optiques Nikon CFI60-2 d’excellente qualité fournissent des images parfaites aux deux oculaires et aux caméras d’imagerie numérique avec logiciel d’analyse de Nikon. La combinaison de ces optiques haute performance avec un système d’éclairage de pointe permet d’obtenir des images d’un contraste et d’une résolution remarquable.
Ces microscopes sont destinés à l’inspection optique ultra précise des wafers (200 mm pour la série L200N et 300 mm pour la série L300N), des réticules et autres substrats.
La conception innovante de Nikon autorise des techniques d’imagerie claires, notamment le contraste élevé, le fond clair, le fond noir, la polarisation (POL), le contraste interférentiel différentiel (DIC) et l’interférométrie à deux ondes.
Tous les appareils photo de la gamme Digital Sight de Nikon peuvent capturer les images d’un échantillon et les transmettre au logiciel de traitement d’images de la suite NIS-Elements, accompagnées des données du microscope sur la lentille objectif utilisée, le réglage du grossissement et l’intensité lumineuse.
De nombreuses entreprises du secteur des semi-conducteurs font confiance aux chargeurs de wafers de Nikon et les utilisent quotidiennement.
La conception innovante de Nikon autorise des techniques d’imagerie de contraste optique nettes et très contrastées, en fond clair, fond noir, polarisation (POL), contraste interférentiel différentiel (DIC) et interférométrie à deux ondes.
Lumière réfléchie : champ clair, fond sombre, polarisé (POL), à contraste interférentiel différentiel (DIC), épifluorescence et interférométrie à double faisceau. Éclairage par lumière transmise : fond clair, fond noir, polarisation, contraste interférentiel différentiel et contraste de phase.
Le microscope détecte et commande la lentille objectif utilisée, l’intensité lumineuse, l’éclairage épiscopique et l’ouverture via une connexion USB au logiciel NIS-Elements de Nikon.
Grâce au positionnement optimal des commandes de l’opérateur et à l’angle variable de l’oculaire, le travail est effectué sans fatigue. L’image droite et redressée permet une observation optimale des matières premières, des semi-conducteurs et des composants industriels.
Les applications sont principalement axées sur les tâches d’inspection dans les secteurs de l’électronique et des télécommunications. Les mesures sur les guides d’ondes des antennes sont d’une extrême précision, de même que celles d’autres composants tels que les wafers pour les dispositifs semi-conducteurs ou photovoltaïques et les microsystèmes électromécaniques (MEMS) utilisés dans les smartphones, les gyroscopes et les accéléromètres, par exemple.
Si vous souhaitez obtenir plus de détails sur ce produit ou une description plus complète, notre équipe d’experts vous apportera un complément d’information et, si nécessaire, organisera une visite sur site. Décrivez-nous en détail votre projet et nos experts vous conseilleront sur le meilleur système d’inspection adapté à vos besoins. Veuillez renseigner le formulaire ci-contre et nous vous contacterons dans les plus brefs délais.
