ECLIPSE LV150NA LED et LV150N LED

Microscopes droits pour diverses observations épiscopiques. Les microscopes sont idéaux pour les inspections de semi-conducteurs et de matériaux.

Convivialité et maintenance améliorées

Grâce à leur conception modulaire et à leur source lumineuse à rendu des couleurs élevé, les microscopes LV150NA LED et LV150N LED permettent d’utiliser des techniques de contraste optique complémentaires sur un seul microscope. Les exemples d’applications comprennent l’inspection des substrats de semi-conducteurs et des boîtiers de dispositifs, des écrans plats (FPD), des composants électroniques et des matériaux innovants à l’aide de techniques de contraste épiscopique spécialisées.

LV150NA LED

LV150N LED

Points clés du produit

Diverses méthodes d’observation

Les modes champ clair, champ sombre, polarisation (POL), contraste interférentiel différentiel (DIC), épifluorescence et interférométrie à deux faisceaux sont disponibles avec les modèles LV150NA LED et LV150N LED.

Communication numérique intelligente

Les objectifs, l’intensité lumineuse, le diaphragme d’ouverture et le type d’observation peuvent tous être détectés à l’aide du contrôleur LV-ECON et du logiciel NIS-Elements. Le LV150N LED détecte la position des objectifs en utilisant le LV-NU5IN et le LV-INAD.

Série Digital Sight

Utilisées conjointement avec les caméras Digital Sight pour microscopes, elles permettent de capturer efficacement des images haute définition. Les images peuvent être traitées à l’aide du logiciel NIS-Elements afin d’effectuer des mesures et des analyses.

Large gamme d’accessoires

Les dernières tourelles porte-objectifs manuelles offrent une précision d’arrêt* supérieure de 50 % par rapport aux modèles précédents. D’autres accessoires, tels que des statifs de microscopes et des lampes LED, peuvent être sélectionnés en fonction de la méthode d’observation et de l’objectif recherché.

Séries d’optiques CFI60-2

Nikon propose différentes lentilles d’objectif conçues pour répondre aux besoins d’observation requis pour les microscopes.  La correction des aberrations chromatiques des objectifs permet de réduire considérablement  la distorsion des couleurs et d’obtenir une excellente qualité d’image .

Intégration avec le chargeur de wafers NWL200

En intégration avec le NWL200, le LV150N LED répond aux besoins d’inspection des wafers, tels que les micro-inspections.

* Précision d’arrêt : variation du champ de vision lors de la rotation de la tourelle pour changer d’objectif, puis retour à l’objectif d’origine (par exemple, variation du champ de vision lors du passage d’un grossissement de 10x à un autre, puis retour à 10x).

Microscopes Droits, Série LV-N

Série Digital Sight

Série NWL200 de chargeurs de wafers

LV150N LEDLV150NA LED
Base unitMaximum sample height: 38 mm (when used with LVNU5A U5A nosepiece and LV-S32 3x2 stage / LV-S64 6x4 stage)
*73 mm when used with one column riser
Coarse and fine adjustment knobs, Left: coarse and fine adjustment / Right: fine adjustment, 40 mm stroke
Coarse adjustment: 14 mm/turn (with torque adjustment, refocusing mechanism) Fine adjustment: 0.1 mm/turn (1 μm/graduation)
Stage mounting hole intervals: 70 x 94 (fixed by 4-M4 screw)
NosepiecesC-N6, LV-NU5N, LV-NBD5N, LV-NU5INLV-NU5A, LV-NU5AC, LV-NU5AI
Episcopic IlluminatorsLV-UEPI-N
High color-rendering LED Lamphouse C-LL-I: 50,000 hours of life *1
Bright/darkfield switch and linked aperture stop (centerable), field diaphragm (centerable), accepts ø25 mm filter (LV-C-LCB, ND4, ND16), polarizer/analyzer; equipped with noise terminator

LV-UEPI2
High color-rendering LED Lamphouse C-LL-I: 50,000 hours of life *1
Fluorescence LED light source D-LEDI (with light adjustment (PC controllable)) *option
Bright/darkfield switch and linked aperture stop (centerable), field diaphragm (centerable), automated optical element switching feature matched to brightfield, darkfield, and epi-fluorescence switch, accepts ø25 mm filter (LV-C-LCB, ND4, ND16), polarizer/analyzer, λ plate, excitation light balancer; equipped with noise terminator
Eyepiece tubesLV-TI3 trinocular eyepiece tube ESD (Erected image, FOV: 22/25)
LV-TT2 tilting trinocular eyepiece tube (Erected image, FOV: 22/25)
C-TB binocular tube (Inverted image, FOV: 22)
P-TBbinocular Tube (Inverted image, FOV: 22)
P-TT2 trinocular Tube (Inverted image, FOV: 22)
StagesLV-S32 3x2 stage (Stroke: 75 x 50 mm with glass plate)
LV-S64 6x4 stage (Stroke: 150 x 100 mm with glass plate)
LV-S6 6x6 stage (Stroke: 150 x 150 mm)
EyepiecesCFI eyepiece series
Objective lensesCFI60-2/CFI60 objective lens series: combination depends on observation method
ESD performance1000 to 10V, within 0.2 sec. (excluding certain accessories)
Power consumption1.2A/75W
WeightApprox. 9.0 kg

*1 : Valeur estimée basée sur les réglementations Nikon.

LV150NA LED, LV150N LED (unité : mm)

Produits associés

Composants pour microscope

Les composants pour microscopes Nikon servent à intégrer ces instruments dans des équipements de fabrication ou des systèmes d’inspection exigeant un niveau de précision extrêmement élevé.
Découvrir le produit
NWL_L200N

Séries de chargeurs de wafers NWL200

Les chargeurs de wafers NWL200 de Nikon, à la fois innovants et riches en fonctionnalités, permettent une inspection complète des wafers de semi-conducteurs de 6" (150 mm) et 8" (200 mm) de diamètre à l’aide d’un microscope optique ou d’un système de mesure vidéo, tel que Nikon NEXIV.
Découvrir le produit

Contactez-nous à propos de ce produit

Si vous souhaitez obtenir plus de détails sur ce produit ou une description plus complète, notre équipe d’experts vous apportera un complément d’information et, si nécessaire, organisera une visite sur site.Décrivez-nous votre projet en détail et nos spécialistes vous donneront des conseils sur le système d’inspection qui répondra à vos besoins.Veuillez renseigner le formulaire ci-contre et nous vous contacterons dans les plus brefs délais.