La série NEXIV VMF-K reçoit le « Red Dot Award : Product Design 2025 »30/07/2025ActualitésNikon Corporation (Nikon) est heureux d’annoncer que le NEXIV VMF-K a reçu le prix « Red Dot Award : Product Design 2025 »…Lire l’article
Demandez à l’expert – Nathan Raymond, Field Service Engineer, Microscopy Business Unit Europe16/07/2025Blog, Microscopes, Video & Microscope MeasuringAujourd’hui, nous nous entretenons avec Nathan Raymond, Field Service Engineer au sein de la Microscopy Business Unit Europe, au sujet…Lire l’article
Demandez à l’expert – Christophe Thubert, Sales Account Manager pour la gamme NEXIV pour la France12/06/2025Blog, Video & Microscope MeasuringAujourd’hui, Christophe Thubert, Sales Account Manager pour la gamme NEXIV pour la France au sein de la Microscopy Business Unit…Lire l’article
Nikon lance la technologie Limited Angle CT améliorée11/06/2025ActualitésLes progrès révolutionnaires de la tomographie assistée par ordinateur offrent une résolution supérieure pour les composants industriels complexes de grande…Lire l’article
Demandez à l’expert – Merten Kuna, ingénieur d’application au sein de la Business Unit Microscopie Europe06/06/2025Blog, MicroscopesAujourd’hui, nous nous entretenons avec Merten Kuna, ingénieur d’application au sein de la Business Unit Microscopie Europe, au sujet de…Lire l’article
Nikon lance le système d’inspection et de tomographie à rayons X VOXLS 20 C 22530/04/2025ActualitésLe système de tomographie par rayons X polyvalent et compact de Nikon offre la plus grande enveloppe d’inspection de sa…Lire l’article
Nikon lance les nouveaux microscopes de la série ECLIPSE LV12/03/2025ActualitésNikon présente trois nouveaux modèles de microscope ECLIPSE, qui élargissent ses capacités en matière de microscopie industrielle grâce à une…Lire l’article
Nikon renforce sa position B2B grâce à l’intégration de l’unité opérationnelle des solutions industrielles07/01/2025ActualitésL’unité opérationnelle des solutions industrielles de Nikon démarre en 2025 au terme d’une intégration réussie, dynamisant ainsi le service à…Lire l’article
La série NEXIV VMF-K de Nikon améliore la vitesse de mesure pour une inspection de précision05/12/2024ActualitésNikon a introduit la série NEXIV VMF-K, un système de mesure vidéo haute-performance qui améliore considérablement le débit de mesure.…Lire l’article
Nikon cède la division des scanners laser dans le cadre d’une transaction avec LK Metrology au Royaume-Uni07/11/2024ActualitésNikon rationalise son portefeuille en vendant ses activités de numérisation laser à LK Metrology, partenaire de longue date, assurant ainsi…Lire l’article
Grâce à la connectivité OPC UA, les systèmes de TN par rayons X de Nikon facilitent le contrôle de la qualité en atelier
L’intelligence artificielle accélère l’inspection de l’excédent d’anode des batteries Lithium-Ion à l’aide de la Tomographie Numérique (TN) par rayons X
Demandez à l’expert – Merten Kuna, ingénieur d’application au sein de la Business Unit Microscopie Europe
Nikon élargit sa gamme de systèmes de tomographie par rayons X avec l’introduction de la série VOXLS 30
La solution de mesure automatique des wafers prend en charge les mesures requises pour le contrôle des processus en aval.