Fechas:
10/01/2023 – 12/01/2023
09/05/2023 – 11/05/2023
Lugar: Sala de capacitación en rayos X, Nikon Metrology, Inc. 12601 Grand River Road, Brighton, MI 48116 (810) 220-4360
Hora: Martes 8:30 A.M. – 5:00 P.M. Miércoles 8:30 A.M. – 5:00 P.M. Jueves 8:30 A.M. – 5:00 P.M.
Contenido del curso:
- Inspect-X (Adquisición de conjuntos de datos TC): Técnicas de montaje de la muestra, controles de fuente/detector de rayos X, enfoque (tamaño de punto)/tamaño del pixel efectivo, filtros, correcciones de sombra, modos de escaneo de artefactos de anillo FastCT/Minimize y ROI/escaneos por lotes.
- CT Pro (Reconstrucción del conjuntos de datos de TC): Cálculo del centro de rotación, endurecimiento del haz, reducción de ruido, formatos de volumen e identificación de artefactos.
- VGSTUDIO MAX (Análisis de volumen): Importación de conjuntos de datos, representación 2D/3D, vistas rotacionales/no planas, determinación de superficies, alineación, mediciones, extracción de superficies, segmentación, animación y exportación de pilas de imágenes.
Capacitación adicional sobre el sistema y de software de tomografía computarizada de rayos X: Nikon Metrology quiere que aproveche al máximo su sistema de rayos X/TC. Ofrecemos varias opciones de clases de capacitación en rayos X/TC para satisfacer sus crecientes necesidades. Nuestro enfoque práctico de capacitación optimizará su experiencia de aprendizaje. Si tiene preguntas, comuníquese con [email protected] o al (810) 220-4360.
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