Fechas: 01/11/2022 – 03/11/2022 14/03/2023 – 16/03/2023
Lugar: Sala de capacitación en rayos X, Nikon Metrology, Inc. 12601 Grand River Road, Brighton, MI 48116 (810) 220-4360
Hora: Martes 8:30 A.M. – 5:00 P.M. Miércoles 8:30 A.M. – 5:00 P.M. Jueves 8:30 A.M. – 5:00 P.M.
Contenido del curso:
Inspect-X (Adquisición de conjuntos de datos TC), CT Pro (Reconstrucción de conjuntos de datos TC), &VGSTUDIO MAX (Análisis de volumen):
Día 1: TC/VG avanzado: escaneos de alta energía, materiales densos, estrategias de reducción de dispersión
Día 2: TC/VG avanzado: escaneos de baja energía, MMT, Mov FID, ganancia
Día 3 – TC/VG avanzado: muestras de materiales múltiples
Capacitación adicional sobre el sistema y de software de tomografía computarizada de rayos X: Nikon Metrology quiere que aproveche al máximo su sistema de rayos X/TC. Ofrecemos varias opciones de clases de capacitación en rayos X/TC para satisfacer sus crecientes necesidades. Nuestro enfoque práctico de capacitación optimizará su experiencia de aprendizaje. Si tiene preguntas, comuníquese con [email protected] o al (810) 220-4360.
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