La capacidad de medir detalles a distancia, sin necesidad de sondas portátiles, objetivos o preparación de superficies, significa que el Laser Radar APDIS de Nikon es ideal para automatizar tareas de inspección repetitivas que cubren una amplia gama de aplicaciones de fabricación, industriales y de investigación, incluyendo aquellas que involucran características de difícil acceso y que son complejas, delicadas o que requieren mucho trabajo.
Descubra más sobre el Laser Radar APDIS de la mano de las personas que lo diseñaron: nuestro equipo de ingeniería.
Vea cómo la próxima generación de Laser Radar está revolucionando la metrología industrial.
Las mediciones automatizadas rápidas y precisas con un tiempo de configuración mínimo brindan lo último en productividad de medición.
Portátil e idóneo para el área de producción, las mediciones absolutas y precisas de las piezas pueden realizarse en cualquier lugar que se requiera, incluso directamente en la línea de producción.
El uso de tecnología láser automatizada de largo alcance, mantiene la pieza bajo investigación a una distancia segura tanto del instrumento como del operador.
La interferometría heterodina permite que el Laser Radar APDIS mida casi cualquier superficie sin necesidad de preparación de piezas, objetivos o adaptadores de funciones.
Los sistemas de medición APDIS MV430 y MV450 se utilizan para la inspección rápida, automatizada y sin contacto de objetos que van desde componentes más pequeños, como la puerta de un automóvil, hasta ensamblajes grandes, como un avión comercial. Esto se logra mediante la aplicación de una tecnología de medición única, precisa, basada en láser y sin contacto que supera las limitaciones de los sistemas de metrología portátiles o monolíticos tradicionales.
La repetibilidad está garantizada por la medición automatizada y sin contacto, independiente del usuario. La operación del sistema se simplifica mediante el uso de interfaces de software estándares como Metrolog, Polyworks y Spatial Analyzer.
| MV430 | MV450 | MV430E | MV450E | |
| Rango | 0.5 m a 30 m | 0.5 m a 50 m | 0.5 m a 30 m | 0.5 m a 50 m |
| Velocidad de datos | 4000 Hz | |||
| Velocidad de escaneo* | 500 pts/s 2 s/cm2 | 1000 pts/s 1 s/cm2 |
||
| Medición de características | Escaneo de características estándar | Exploración de funciones mejorada** | ||
| Medición de vibraciones | n/a | 2000 Hz máx.; 1u00b5sensibilidad m/m | ||
| Ambiental | IP54 | |||
*Configuración predeterminada: apilamiento de 4, espaciado de puntos de 0.1mm, espaciado de líneas de 1mm.
**Medición de características hasta dos veces más rápida que la variante estándar. La velocidad exacta depende de la configuración.
| Rango | Azimut | Elevación | |
| Límite de trabajo | 0.5m - 30m/50m | u00b1 180u00b0 | u00b1 45u00b0 |
| Precisión (MPE) | 20u00b5m + 5u00b5m/m | 13.6u00b5m/m | |
| Precisión de medición de longitud de 2 puntos* MPE(u00b5m) = u221a(2(20 + 5RAve)2 + (13.6RAve)2) | |||||||
| Rango promedio (m) | 0.5 | 1 | 2 | 5 | 10 | 20 | 30 |
| MPE (u00b5) | 33 | 40 | 57 | 115 | 216 | 420 | 625 |
| Típico (u00b5m) | 17 | 20 | 28 | 58 | 108 | 210 | 313 |
* Precisión dada como Error Máximo Permisible (MPE) de acuerdo con ASME B89.4.19 – 2006 verificado en orientación vertical a 20°C. La precisión típica que se muestra es la mitad del MPE. Todas las medidas se tomaron en un ambiente estable con esfera de referencia de ½” grado 25 o superior.
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