自动检测程序
使用可在任何PC上读取的HTML报告,通过自动检测程序最大限度地提高生产效率。使用直观的拖放界面构建程序,具有通过/失败优化、目视检查和程序内可以进行的其他操作。
尼康的Xi Nanotech X射线源由于其独家的整体式发生器设计和无与伦比的160kV与20W目标功率而具有独家和市场领先的特点。
High.Contrast Filter 通过在单幅清晰图像中同时保证高低对比度区域的出色图像质量,从而揭示射线图像中的隐藏细节。操作员现在可以比以往更快地识别样品的各个方面,从而优化和提高效率
同类最佳的检测面积与占地面积比,可容纳高达711mm x 762mm (28”x 30″)的样本和大的探测器视场(高达25cmx20cm)。
使用CT和X.Tract进行3D检测,为全3D部件无损检测提供任意方向的数字切片。 高精度、经济高效的CT解决方案,适用于较小的部件。
我们行业领先的、具有小像素尺寸和快速曝光的大面积平板探测器与小焦点尺寸微焦点X射线源相结合,产生了高质量和高分辨率成像。
XT H 系列
VOXLS 30 系列
High.Contrast Filter
XT V 系列
XT H 225 ST 2x
XT V130C 应用于电子元器件检测的高效率130KV 系统 | XT V160 用于高精度 X 射线和 CT 应用的优质 160kV 系统 |
能量 | 能量 |
分辨率 | 分辨率 |
视场 | 视场 |
CT 配置 | CT 配置 |
X.Tract 配置 | X.Tract 配置 |