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XT V 시리즈용 전자기기 이외 응용 분야
서브 미크론 형상 인식 기능을 갖춘 XT V 160 엑스레이 및 CT 시스템은 전자기기뿐만 아니라 의료, 자동차, 항공우주, 소비재 등 다양한 산업 분야에 적용할 수 있습니다.
제품 하이라이트
뛰어난 성능의 엑스레이 발생장치
시장을 선도하는 Nikon의 Xi Nanotech 엑스레이 마이크로포커스 발생장치는 독자 개발한 통합 생성기 디자인과 최상의 160kV 최대 에너지 및 20W 트루 타겟 전력으로 인해 고유한 성능을 발휘합니다.
강력한 이미지 품질 향상 기능
High.Contrast Filter는 한 장의 이미지의 고대비와 저대비 영역에서 뛰어난 이미지 품질을 제공하여 X선 이미지에 숨겨진 세부 정보를 선명하게 보여줍니다. 사용자는 신속하게 검사물의 모든 측면을 식별할 수 있어 생산성을 최적화할 수 있습니다.
생산성 향상
이 기기는 동급 최고의 검사 면적 대 설치 공간 비율을 제공하고 최대 711mm x 762mm(28″x30″)의 샘플을 수용하며 넓은 검출기 시야각(최대 25cmx20cm)을 사용합니다.
비용 효율적인 3D CT
CT 및 X.Tract를 사용한 3D 검사는 전체 3D 구성품 NDT에 대해 모든 방향에서 디지털 단층생성(slicing)을 제공하여 작은 구성품에 대해 고정밀의 비용 효율적인 CT 솔루션을 제공합니다.
핵심 기능
업계 최고의 이미지 품질
당사가 자랑하는 픽셀 크기가 작고 고속 노출이 가능한 업계 최고 성능의 대면적 평판 검출기 그리고 초점 스폿 크기가 작은 마이크로포커스 엑스레이 발생장치의 조합은 고품질, 고해상도의 이미지를 제공합니다.
낮은 소유 비용
개방형 튜브 엑스레이 발생장치 디자인은 사용자가 간단히 제자리에 끼우고 교체할 수 있는 필라멘트 컵을 사용하여 수명 주기가 영구적입니다. 독자적인 통합 생성기 설계로 고전압 케이블 유지보수가 필요하지 않아 소유 비용이 저렴합니다.
충돌 방지
지능적인 5축 프로그래밍 가능 스테이지 및 직관적인 조이스틱 제어(클릭 앤 포인트(click-and-point) 방식의 소프트웨어 제어와 병용)를 사용하며 충돌 위험이 없는 샘플 조작을 통해 실현된 교육 소요시간 단축 및 사용자 경험 간소화
자동화된 검사 프로그램
모든 PC에서 판독할 수 있는 HTML 보고 기능을 활용하는 자동화된 검사 프로그램으로 생산성을 극대화하십시오. 프로그램은 통과/실패 최적화, 시각적 검사 및 프로그램 내에서 가능한 기타 작업과 함께 직관적인 끌어서 놓기(drag-and-drop) 인터페이스를 사용하여 구축됩니다.
관련 제품
XT V 130 및 XT V 160
니콘의 XT V 제품군은 전자 부품(PCB, BGA, 칩 등)의 비파괴 검사를 위한 세계 최고 수준의 엑스레이 및 CT 시스템으로 구성됩니다.
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