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XT V 130 및 XT V 160
XT V 130 및 XT V 160
서브 미크론 형상 인식 기능을 갖춘 XT V 시스템 제품군은 복잡한 전자 부품의 고성능 비파괴 검사에서 요구되는 시장의 요구사항을 충족합니다. 니콘의 Xi Nanotech 엑스레이 발생장치는 업계 최고의 평판 검출기와 결합되어 동급 최고의 이미지 품질을 생성하며, 2D와 3D 검사 사이의 원활한 전환이 가능합니다.
제품 하이라이트
뛰어난 성능의 엑스레이 발생장치
시장을 선도하는 니콘의 Xi Nanotech 엑스레이 마이크로포커스 발생장치는 독자 개발한 통합 생성기 디자인과 최상의 160kV 최대 에너지 및 20W 트루 타겟 전력으로 인해 고유한 성능을 발휘합니다.
강력한 이미지 품질 향상 기능
High.Contrast Filter는 한 장의 이미지의 고대비와 저대비 영역에서 뛰어난 이미지 품질을 제공하여 X선 이미지에 숨겨진 세부 정보를 선명하게 보여줍니다. 사용자는 신속하게 검사물의 모든 측면을 식별할 수 있어 생산성을 최적화할 수 있습니다.
PCB Analysis Suite
PCB Analysis Suite는 자동화된 통과/실패 검사 및 보고를 통해 BGA, 본드 와이어, PTH, 다층 기판의 PoP와 같은 복잡한 패키지 등의 고급 측정 및 분석이 가능합니다.
경사각 동심 이미징
360° 샘플 회전과 함께 제공되는 최대 90°의 고경사 시야각이 지능형 소프트웨어 및 하드웨어를 사용하여 관심 영역의 화상을 유지합니다.
핵심 기능
산업
이 시스템은 사용이 직관적이며 업계 최고의 소프트웨어를 활용하여 최소한의 교육만으로 모든 작업자의 생산성을 극대화합니다. 서브 미크론 형상 인식 기능을 갖춘 XT V 검사 시스템은 PCB 어셈블리, BGA, 칩, 의료, 자동차 및 항공우주 부품, 소비재 등의 검사를 비롯한 다양한 산업 분야의 광범위한 응용 분야에 이상적입니다.
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이 제품에 대한 자세한 설명이 필요한 경우 당사 전문팀이 추가 정보를 제공하며 필요한 경우 현장 방문도 가능합니다. 귀하의 프로젝트에 대해 자세히 알려주시면 요구사항에 맞는 최상의 검사 시스템에 대해 조언할 것입니다. 맞은편 양식을 작성해 주시면 빠른 시일 내에 연락드리겠습니다.