OPC UA와의 생산라인 통합
현장 설치 CT, 그리고 니콘 X-ray 시스템과 제조실행시스템(Manufacturing Execution Systems, MES)의 통합에 대한 니콘의 약속은 다음을 비롯한 산업 표준 프로토콜을 통해 실현됩니다. OPC UA.
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XT H 450
고출력 CT 검사의 한계를 극복
니콘이 독자 개발한 450kV 마이크로포커스 발생장치는 고밀도 부품을 관통하는 데 필요한 전력을 제공하는 동시에 미니포커스 발생장치보다 몇 배 작은 스폿(spot) 크기로 미크론(μ) 단위의 정확도를 달성합니다. 고유한 성능의 CLDA 선형 검출기와 결합하면 선명하고 산란 없는 이미지가 생성되며, 고감도 평판 검출기는 스캔 시간을 단축해줍니다.
제품 하이라이트
고유한 성능의 450kV 마이크로포커스 발생장치
니콘의 450kV/450W 마이크로포커스 엑스레이 발생장치는 고밀도 구성품의 검사를 위해 80μm급 고해상도 초점 스폿 크기와 고에너지를 동시에 제공하는 세계 유일의 제품입니다.
최상의 해상도를 위한 회전 타겟
니콘의 450kV 마이크로포커스 발생장치는 독자적인 Rotating Target 2.0 기술을 사용하여 450W에서 120μm 스폿 크기로 최상의 해상도를 달성하거나 스캔 시간을 단축합니다.
Scatter-Free CT
니콘이 자체 개발한 CLDA(Curved Linear Detector Array)는 원하지 않는 산란 엑스레이를 캡처하지 않아 산란 없는 뛰어난 이미지를 생성하는 Nikon의 450kV 마이크로포커스 발생장치용으로 특별히 설계된 고감도 선형 검출기입니다.
핵심 기능
더 많은 유연성을 위한 이중 검출기
픽셀 크기가 작고 고속 노출이 가능한 업계 최고 성능의 Nikon 대면적 평판 검출기와 선형 CLDA 검출기를 결합하면 단일 시스템에서도 높은 처리량과 놀라운 이미지 품질의 스캔을 모두 실현 가능합니다.
자동화된 검출기 평가
평판 검출기는 ASTM E2597 표준에 대응하므로, 사용자는 ASTM E2737에 따라 이 검출기의 성능을 평가하고 추적함으로써 오랜 시간에 걸쳐 신뢰할 수 있는 검사 효율성과 정확도를 보장할 수 있습니다.
Half.Turn CT로 획득 시간 단축
자체 개발하여 최적화한 재구성 알고리즘 덕분에, 품질 또는 정확도의 손실이 없고 아티팩트가 없는 데이터를 기존 CT 이용 시 일반적으로 필요한 데이터량의 약 절반만으로도 생성이 가능하므로, 획득 시간을 크게 단축할 수 있습니다.
Offset.CT를 통한 더 넓은 고해상도 스캔
Offset.CT를 사용하면 검출기 자체보다 넓은 대형 구성품을 스캔할 수 있을 뿐만 아니라 구성품을 엑스레이 발생장치에 훨씬 더 가깝게 배치할 수 있으므로 더 높은 해상도의 스캔이 가능합니다.
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엑스레이 발생장치 기술
니콘 엑스레이 및 CT 시스템이 자랑하는 우수한 이미지 품질의 비결은 바로 1986년부터 자체적으로 설계하여 제조해 온 세계 최고 성능의 엑스레이 발생장치입니다.
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3D CT용 Inspect-X
사용자 경험을 중심으로 설계된 Inspect-X 소프트웨어는 모든 엑스레이 및 CT 시스템에 대해 직관적인 디스플레이, 고급 스캔 모드 및 사용자 친화적인 워크플로우를 제공합니다.
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이 제품에 대한 자세한 설명이 필요한 경우 당사 전문팀이 추가 정보를 제공하며 필요한 경우 현장 방문도 가능합니다. 귀하의 프로젝트에 대해 자세히 알려주시면 요구사항에 맞는 최상의 검사 시스템에 대해 조언할 것입니다. 맞은편 양식을 작성해 주시면 빠른 시일 내에 연락드리겠습니다.