Applications non électroniques pour la série XT V

Grâce à la reconnaissance de caractéristiques submicroniques, le système d’inspection et de tomographie numérique à rayons X XT V 160 est adapté à un large éventail de secteurs d’activité parallèlement à celui de l’électronique : la médecine, l’automobile, l’aérospatiale, les produits de consommation, etc.

Points clefs du produit

1-non-electronic-application-xtv160-superior-x-ray-source

Source de rayons X hautes performances

La source de rayons X microfoyer Xi Nanotech de Nikon, leader sur le marché, est unique en son genre grâce à la conception exclusive de son générateur intégré, à sa tension maximale inégalée de 160 kV et à sa puissance cible réelle de 20 W.

Puissante amélioration de l’image

Le High.Contrast Filter révèle les détails cachés de l’image radio en fournissant une qualité d’image exceptionnelle des zones de contraste faible à élevé, le tout dans une seule et même image nette. Les opérateurs peuvent désormais identifier toutes les caractéristiques de l’échantillon et ce, de façon plus rapide que jamais auparavant, ce qui optimise et accroît de fait, leur productivité.

Augmentation de la productivité

L’équipement offre le meilleur rapport surface d’inspection/volume d’encombrement cabine de sa catégorie car il peut accueillir des échantillons allant jusqu’à 711 mm x 762 mm (28″ x 30″) et son détecteur présente un large champ d’observation (jusqu’à 25 cm x 20 cm).

Tomographie numérique (TN) 3D rentable

L’inspection 3D par TN et X.Tract permet de réaliser des coupes numériques selon n’importe quelle orientation pour le contrôle non destructif (CND) de composants en 3D, ce qui constitue une solution de tomographie numérique (TN) de haute précision à bas coût pour les petits éléments.

Fonctions clefs

Industries

Paragraphe Industries/Cas d’utilisation

Série XT V

High.Contrast Filter

Produits associés

XT V 130 et XT V 160

La gamme XT V de Nikon comprend des systèmes d’inspection et de tomographie numérique à rayons X de renommée mondiale pour le contrôle non destructif des composants électroniques (circuits imprimés, BGA, puces, etc.).
Découvrir le produit

Contactez-nous à propos de ce produit

Si vous souhaitez obtenir plus de détails sur ce produit ou une description plus complète, notre équipe d’experts vous apportera un complément d’information et, si nécessaire, organisera une visite sur site. Décrivez-nous en détail votre projet et nos experts vous conseilleront sur le meilleur système d’inspection adapté à vos besoins. Veuillez renseigner le formulaire ci-contre et nous vous contacterons dans les plus brefs délais.