Tilted CT : inspection par laminographie haute résolution

Tilted CT, technologie de laminographie de Nikon, permet un contrôle qualité plus rapide et plus fiable pour les composants plans, plats ou d’un rapport hauteur/largeur élevé.

Résolution, clarté, vitesse

Le mode innovant Tilted CT de Nikon est une méthode d’inspection par laminographie à rayons X qui utilise un axe de rotation incliné. Elle permet d’améliorer grandement la résolution du voxel pour les composants avec un rapport hauteur/largeur élevé. Tilted CT produit un grandissement accru et une meilleure résolution des volumes en 3D et ce, à partir de milliers d’images radiographiques en 2D, ce qui révèle les petits détails auparavant cachés ou masqués dans les méthodes de TN traditionnelles. Le grandissement est accru, la clarté, améliorée et l’acquisition de données plus rapide.

Points clefs du produit

Rotation inclinée

Contrairement à la TN 3D conventionnelle, la TN inclinée utilise un axe de rotation incliné. Comme les composants peuvent être approchés bien plus près de la source de rayons X, l’inspection peut être focalisée sur des caractéristiques qui ne mesurent que quelques dizaines de microns, même au sein d’assemblage plats de grande taille.

Délimitation de zones d’intérêt précises

Les tranches 2D au sein des volumes de TN inclinée 3D (Tilted CT) permettent d’isoler des composants, pour une inspection non-destructive plus précise. De minuscules détails et de petites zones d’intérêt apparaissent alors et peuvent être examinés de manière plus efficace qu’avec une radiographie par rayons X.

Focalisation sans obstacle

Tilted CT fournit des vues complètes et dégagées du composant durant sa rotation dans le faisceau conique de rayons X, ce qui réduit le risque de superpositions dans les assemblages complexes ou de masquage des matériaux à haute densité.

Inspection plus rapide et plus efficace

Les objets plans peuvent être examinés de manière plus fiable, plus efficace et dans un délai plus court qu’avec une microscopie par rayons X. Lors d’un essai comparatif, un scan en Tilted CT de moins d’une heure a permis d’obtenir un résultat équivalent à celui produit par microscopie à rayons X en sept heures de travail.

Applications industrielles

FAQ

Série XT H

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TN automatisée

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