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Série XT H
Des solutions polyvalentes pour les applications d’inspection les plus exigeantes
Ces systèmes combinent une grande polyvalence – indispensable en laboratoire – avec des caractéristiques uniques telles que la Rotating.Target 2.0 225 kV, le mode d’acquisition CT Half Turn et le contrôle automatique du filament et ce, afin de réduire le temps de cycle et d’augmenter le temps de fonctionnement lorsqu’ils sont utilisés pour l’inspection en série en production.
Points clefs du produit
La polyvalence dont vous avez besoin
Les systèmes XT H sont polyvalents et vous permettent de réaliser de nombreuses tâches d’inspection grâce à un large choix de sources, de cibles, de modes d’acquisition et d’options comme l’ajustement motorisé de la distance entre la source et le détecteur.
X.Tend Helical CT
Les objets de grande taille peuvent être numérisés en un seul processus d’acquisition, ce qui élimine entre autres, les artefacts introduits par le faisceau conique et l’assemblage de plusieurs scans. Cela offre également l’avantage de numériser des objets avec un grossissement plus important, ce qui se traduit par une résolution nettement plus élevée.
Technologie exclusive Rotating.Target 2.0 225 kV
Permet des acquisitions continues jusqu’à 450 W avec une résolution jusqu’à trois fois plus élevée pour la même puissance ou une acquisition de données trois fois plus rapide pour une résolution donnée.
Fonctions clefs
XT H 225 Pour inspection de petites et moyennes pièces | XT H 225 ST 2x Système flexible pour une variété d’applications | MCT225 Métrologie de grande précision par TN à rayons X |
Dimensions de pièce | Dimensions de pièce | Dimensions de pièce |
Densité de pièce | Densité de pièce | Densité de pièce |
Précision | Précision | Précision |
Puissance | Puissance | Puissance |
Polyvalence | Polyvalence | Polyvalence |
Encombrement | Encombrement | Encombrement |
Produits associés
Scatter Correction CT
AI Reconstruction
Inspect-X pour la TN 3D
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