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Support et services

Brochures

Brochures générales

CT par rayons X

Radar laser

Systèmes de mesure vidéo

Mesure manuelle

Microscopie industrielle

Brochures générales

Catalogue général des instruments industriels (Anglais)

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Brochure sur les solutions Nikon Metrology (Français)

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CT par rayons X

Série XT H (Français)

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VOXLS 40 C 450 (Français)

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Série VOXLS 30 (Français)

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XT H 225 ST 2x (Français)

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High.Contrast Filter

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LiB.Overhang Analysis

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Services d’inspection tomographique par rayons X (Anglais)

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MCT 225 (Français)

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TN automatisée (Anglais)

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Systèmes configurables de TN par rayons X (Anglais)

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Série XT V (Français)

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Radar laser

APDIS Stations Intelligent Quality (Français)

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APDIS et la mesure d’écart et d’affleurement (Français)

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APDIS et l’industrie automobile (Anglais)

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Radar laser APDIS (Français)

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Systèmes de mesure vidéo

Série VMF-K (Anglais)

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Série VMZ-S (Français)

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Série VMA (Français)

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Remote Control SDK (Anglais)

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VMZ-H3030 (Anglais)

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Mesure manuelle

Série MM de microscopes de mesure (Anglais)

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Digimicro (Anglais)

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Collimateur automatique (Anglais)

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Projecteurs de profil (Anglais)

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Microscopie industrielle

Composants de microscope (Anglais)

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NIS Elements (Anglais)

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Appareils photo numériques pour microscopes (Anglais)

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Chargeur de wafers NWL200 pour l’inspection des circuits intégrés (Anglais)

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Microscopes à polarisation (POL) droits (Anglais)

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Série MA de microscopes inversés (Anglais)

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Série LV-N de microscopes droits (Anglais)

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Série L de microscopes droits (Anglais)

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Stéréomicroscopes (Anglais)

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Études de cas

L’inspection automatisée NIKON des wafers, stimule la productivité chez Lawrence Semiconductor

Lawrence Semiconductor s’est associé à Nikon Metrology pour améliorer ses processus d’inspection des wafers. En intégrant le système de chargement…

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$X-ray-CT-Sufrace-Finish-REM-Nikon$

REM Surface Engineering règle des problèmes à l’aide de la tomodensitométrie à rayons X de Nikon

REM Surface Engineering s’est tourné vers Nikon et ses technologies de rayons X haute résolution pour découvrir les défauts internes…

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La tomographie assistée par ordinateur (CT) avancée de Nikon révèle les secrets d’une montre rare du XVIIe siècle exposée au Musée de Londres.

La technologie de tomographie assistée par ordinateur (CT) de Nikon a révélé les détails complexes d’une montre pendentif rare datant…

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Le MCT225 de Nikon apporte les capacités de la CT dans l’analyse des lentilles Tamron

La technologie de tomographie numérique aux rayons X (CT) de Nikon a permis à Tamron, le poids lourd des objectifs d’appareils…

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Les technologies à rayons X MCT225 de Nikon transforment le moulage de plastique de Tochigi Nikon

La technologie de tomographie numérique à rayons X (TN ou CT) fournie par Nikon a permis à l’entreprise innovante de…

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Le siège social d’IntriPlex Technologies à Santa Barbara, en Californie.

Le système de mesure vidéo iNEXIV de Nikon reçoit le tampon d’approbation d’IntriPlex Technologies

Le système de mesure vidéo iNEXIV VMA-2520 de Nikon, dernier né des solutions métrologiques de la société, a permis à…

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Le centre de R&D d’un sidérurgiste coréen investit dans la CT par rayons X pour l’inspection des soudures des véhicules

L’une des plus grandes compagnies sidérurgiques au monde, POSCO, a investi dans un système de CT par rayons X (tomographie…

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Conférenciers faisant un exposé lors d’une réunion d’affaires. Public dans la salle de conférence. Concept d’entreprise et d’entreprenariat.

La technologie de mesure optique automatisée de Nikon au service d’une nouvelle formation en métrologie

Suite à l’ouverture d’un nouveau département de technologie de mesure de production en 2020, la Landesberufsschule Neunkirchen est désormais l’une des…

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Nikon lance un système automatisé et rapide pour l’inspection des codes d’identification des plaquettes

Pour aider les fabricants à contrôler la qualité des plaquettes de silicium, l’Unité commerciale de métrologie industrielle de Nikon Corporation…

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Inspection rapide et peu coûteuse des plaquettes de semi-conducteurs

L’introduction d’un système de mesure vidéo programmable avec manipulation automatique des plaquettes de semi-conducteurs par l’Industrial Metrology Business Unit de…

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Livre blanc

Radar Laser APDIS : un changement de paradigme par rapport aux MMT pour une mesure absolue sans contact

APDIS rivalise encore plus efficacement avec la machine à mesurer tridimensionnelle (MMT) en termes de précision avec laquelle les composants peuvent être inspectés...

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Laser Radar annonce un changement de paradigme dans la métrologie automobile

La toute dernière version, nommée APDIS, est une avancée importante dans l’évolution de la technologie et convient particulièrement bien à une utilisation dans l’industrie automobile...

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Logiciels

Microscopes industriels

Stéréomicroscopes

Logiciel d’imagerie

Appareils pour microscopes

Accessoires

Produits multiples

CT par rayons X / Scanners laser 3D / Laser Radar

Microscopes industriels

ECLIPSE MA200 – Setup Tool ver. 1.2.1 (32 bits)

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ECLIPSE MA200 – Setup Tool ver. 1.2.1 (64 bits)

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Série LV – Support Tools ver. 2.3.3 (64 bits)

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ECLIPSE L300N/ L300ND/L200N/L200ND – Setup Tool ver. 1.2.1 (32 bits)

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ECLIPSE L300N/ L300ND/L200N/L200ND – Setup Tool ver. 1.2.1 (64 bits)

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Stéréomicroscopes

SMZ25/SMZ18 /SMZ1270i – Logiciel de commande SMZ Support Tools version 1.4.0 (64 bits)

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Logiciel d’imagerie

NIS-Elements Viewer – ver. 5.22.00 (Windows)

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NIS-Elements L – ver. 1.20.00 (64 bits)

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NIS-Elements L – ver. 1.22.00 (64 bits)

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NIS-Elements F – ver. 4.60.00 (64 bits)

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NIS-Elements F – ver. 5.21.00 (64 bits)

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NIS-Elements F – ver. 5.22.00 (64 bits)

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NIS-Elements F

Ver5.42.07 64bit

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NIS-Elements D – ver. 5.02.03 (64 bits)

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NIS-Elements D – ver. 5.11.03 (64 bits)

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NIS-Elements D – ver. 5.11.03 correctif 01 (64 bits)

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NIS-Elements D – ver. 5.21.03 (64 bits)

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NIS-Elements D – ver. 5.30.05 (64 bits)

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NIS-Elements D

Ver5.42.06 (64bit)

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NIS-Elements D

Ver6.10.00 (64bit)

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NIS-Elements BR – ver. 5.02.03 (64 bits)

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NIS-Elements BR – ver. 5.11.03 (64 bits)

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NIS-Elements BR – ver. 5.11.03 correctif 01 (64 bits)

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NIS-Elements BR – ver. 5.21.03 (64 bits)

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NIS-Elements BR – ver. 5.30.05 (64 bits)

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NIS-Elements BR

Ver5.42.06 (64bit)

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NIS-Elements BR

Ver6.10.00 (64bit)

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NIS-Elements AR – ver. 5.02.03 (64 bits)

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NIS-Elements AR – ver. 5.11.03 (64 bits)

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NIS-Elements AR – ver. 5.11.03 correctif 01 (64 bits)

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NIS-Elements AR – ver. 5.21.03 (64 bits)

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NIS-Elements AR – ver. 5.30.05 (64 bits)

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NIS-Elements AR

Ver5.42.06 (64bit)

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NIS-Elements AR

Ver6.10.00 (64bit)

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Appareils pour microscopes

Série Digital Sight – Logiciel de commande NIS-Elements F ver. 2.21 (version anglaise)

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Qi2 ver. 1.03

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.0.2 (Mac)

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Série Digital Sight – DS-L4 Viewer ver. 1.0.2 (Windows)

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Qi2 ver. 2.00

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Ri2 ver. 2.00

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Qi2 ver. 2.10

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Ri2 ver. 2.10

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.1.0

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Fi3 ver. 1.10

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Qi2 ver. 2.11

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Ri2 ver. 2.11

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.2.0

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.1.0 (Mac)

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.1.0 (Windows)

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.1.0 (Android)

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.3.0

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.4.0

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.2.0 (Mac)

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.2.0 (Windows)

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.2.0 (Android)

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.0

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.2.1 (Android)

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.1

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.2

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.3

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.2.2 (Android)

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.4

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.5

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.6

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.7

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.8

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.11

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Série Digital Sight – Digital Sight 1000 ver. 3.18

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Série Digital Sight – Digital Sight 10 ver. 1.10

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Série Digital Sight – Digital Sight 10 ver. 1.20

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Série Digital Sight – Digital Sight 10 ver. 1.30

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Série Digital Sight – Digital Sight 10 ver. 1.40

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Série Digital Sight

Digital Sight 10 Ver1.50

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Série Digital Sight

Digital Sight 50M Ver1.30

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Accessoires

Illuminateur pré-centré HG à fibre optique – Logiciel de commande Fiber Controller (Ver1.0.1)

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Produits multiples

Pilote USB pour microscope – micusb ver. 3.0.1.13 (64 bits)

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Pilote USB pour microscope – micusb ver. 3.0.1.14 (64 bits)

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CT par rayons X / Scanners laser 3D / Laser radar

Licence NM API Metrolog

(.zip, 1kb)

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Licence NM API PolyWorks

(.zip, 1kb)

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Licence NM API CAMIO

(.zip, 1kb)

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Licensing Installer

NMLicensingInstaller Ver2.3 (msi-file, 52mb)

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L’inspection automatisée NIKON des wafers, stimule la productivité chez Lawrence Semiconductor

REM Surface Engineering règle des problèmes à l’aide de la tomodensitométrie à rayons X de Nikon

La tomographie assistée par ordinateur (CT) avancée de Nikon révèle les secrets d’une montre rare du XVIIe siècle exposée au Musée de Londres.

Le MCT225 de Nikon apporte les capacités de la CT dans l’analyse des lentilles Tamron

Les technologies à rayons X MCT225 de Nikon transforment le moulage de plastique de Tochigi Nikon

Le système de mesure vidéo iNEXIV de Nikon reçoit le tampon d’approbation d’IntriPlex Technologies

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