La série NEXIV VMF-K reçoit le « Good Design Award 2025 »15/10/2025ActualitésNikon Corporation (Nikon) a le plaisir d’annoncer que le NEXIV VMF-K a reçu le « Good Design Award 2025 »…Lire l’article
La série NEXIV VMF-K reçoit le « Red Dot Award : Product Design 2025 »30/07/2025ActualitésNikon Corporation (Nikon) est heureux d’annoncer que le NEXIV VMF-K a reçu le prix « Red Dot Award : Product Design 2025 »…Lire l’article
Demandez à l’expert – Nathan Raymond, Field Service Engineer, Microscopy Business Unit Europe16/07/2025Blog, Microscopes, Video & Microscope MeasuringAujourd’hui, nous nous entretenons avec Nathan Raymond, Field Service Engineer au sein de la Microscopy Business Unit Europe, au sujet…Lire l’article
Demandez à l’expert – Christophe Thubert, Sales Account Manager pour la gamme NEXIV pour la France12/06/2025Blog, Video & Microscope MeasuringAujourd’hui, Christophe Thubert, Sales Account Manager pour la gamme NEXIV pour la France au sein de la Microscopy Business Unit…Lire l’article
Nikon lance la technologie Limited Angle CT améliorée11/06/2025ActualitésLes progrès révolutionnaires de la tomographie assistée par ordinateur offrent une résolution supérieure pour les composants industriels complexes de grande…Lire l’article
Demandez à l’expert – Merten Kuna, ingénieur d’application au sein de la Business Unit Microscopie Europe06/06/2025Blog, MicroscopesAujourd’hui, nous nous entretenons avec Merten Kuna, ingénieur d’application au sein de la Business Unit Microscopie Europe, au sujet de…Lire l’article
Nikon lance le système d’inspection et de tomographie à rayons X VOXLS 20 C 22530/04/2025ActualitésLe système de tomographie par rayons X polyvalent et compact de Nikon offre la plus grande enveloppe d’inspection de sa…Lire l’article
Nikon lance les nouveaux microscopes de la série ECLIPSE LV12/03/2025ActualitésNikon présente trois nouveaux modèles de microscope ECLIPSE, qui élargissent ses capacités en matière de microscopie industrielle grâce à une…Lire l’article
Nikon renforce sa position B2B grâce à l’intégration de l’unité opérationnelle des solutions industrielles07/01/2025ActualitésL’unité opérationnelle des solutions industrielles de Nikon démarre en 2025 au terme d’une intégration réussie, dynamisant ainsi le service à…Lire l’article
La série NEXIV VMF-K de Nikon améliore la vitesse de mesure pour une inspection de précision05/12/2024ActualitésNikon a introduit la série NEXIV VMF-K, un système de mesure vidéo haute-performance qui améliore considérablement le débit de mesure.…Lire l’article
L’intelligence artificielle accélère l’inspection de l’excédent d’anode des batteries Lithium-Ion à l’aide de la Tomographie Numérique (TN) par rayons X
Demandez à l’expert – Merten Kuna, ingénieur d’application au sein de la Business Unit Microscopie Europe
Grâce à la connectivité OPC UA, les systèmes de TN par rayons X de Nikon facilitent le contrôle de la qualité en atelier
La solution de mesure automatique des wafers prend en charge les mesures requises pour le contrôle des processus en aval.
Un logiciel amélioré rend la mesure par vidéo accessible à tous et améliore la répétabilité des résultats
Nikon élargit sa gamme de systèmes de tomographie par rayons X avec l’introduction de la série VOXLS 30