Nikon Corporation (Nikon) a annoncé un ensemble complet d’améliorations pour sa série de systèmes de rayons X et de tomographie numérique (CT) XT V, renforçant la position de la plateforme comme solution de classe mondiale pour l’inspection non destructrice des composants électroniques. Ces améliorations permettent aux opérateurs d’obtenir une meilleure qualité d’image, de scanner des échantillons plus lourds et de protéger les composants sensibles contre les décharges électrostatiques et réduire les dommages aux composants liés aux rayonnements.
Une amélioration logicielle et cinq améliorations matérielles sont disponibles en tant que mises à niveau optionnelles pour la série XT V, permettant aux clients de personnaliser leurs systèmes en fonction de leurs besoins spécifiques.
Amélioration logicielle :
- High.Contrast Filter 2.0 : Offre une image toujours claire, qui garantit une visibilité immédiate des défauts quelle que soit la forme ou la densité de l’échantillon.
Améliorations matérielles :
- Plateau pour charges élevées : Permet de scanner des pièces plus grandes et plus lourdes. Les opérateurs peuvent scanner davantage de pièces par lot et élargir les capacités d’inspection.
- Fenêtre Diamant : Offre un meilleur contraste d’image sur toute la plage de fonctionnement, particulièrement avantageux pour les échantillons à faible densité et les matériaux mixtes, ce qui réduit le bruit et accélère les scans.
- Collimateur à faible dose : Protège les composants électroniques sensibles aux rayonnements, en réduisant au minimum la dose reçue par les pièces délicates comme les dispositifs semi-conducteurs, tout en permettant l’inspection sécurisée de lots plus importants.
- Amélioration de la protection ESD : Assure une inspection avec protection contre les décharges électrostatiques (ESD) des composants électroniques sensibles conformément aux normes CEI 6100-4-2, ANSI/ESD S20.20 et JEDEC JESD625 lorsqu’il est installé dans une zone protégée contre les décharges électrostatiques (EPA), permettant une intégration en toute confiance dans les processus avec protection ESD.
- Bras CT à fort grossissement : Permet de réaliser des scans Tomographique à plus fort grossissement pour de petits échantillons, offrant aux opérateurs la possibilité d’observer des détails plus fins qu’auparavant.
La série XT V continue d’exceller dans les applications d’inspection électronique, y compris celle des circuits imprimés (PCB), des BGA, des puces et des dispositifs semi-conducteurs. Les systèmes conservent leurs sources à rayons X microfocus Xi, leaders sur le marché, ainsi que leurs puissantes capacités d’amélioration d’image, tandis que les nouvelles améliorations offrent une valeur ajoutée supplémentaire aux clients dans les domaines de la fabrication électronique, de la production de semi-conducteurs et des environnements de contrôle qualité.
Des informations supplémentaires sur la série XT V améliorée sont disponibles sur le site web de Nikon.
Pour le compte de :
Nikon Metrology Europe NV
Interleuvenlaan 86, 3001 Louvain, Belgique.
Contact : Mona Noujeim, X-ray Marketing Manager Europe
Tel: +32 16 74 01 01
Email : [email protected]
Web : www.industry.nikon.com
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