Con el reconocimiento de características submicrónicas, la gama de sistemas XT V satisface la necesidad actual de inspección no destructiva y de alto rendimiento de componentes electrónicos complejos. La fuente de rayos X, Xi Nanotech de Nikon junto con los detectores de panel plano líderes en la industria produce la mejor calidad de imagen de su clase, con una transición perfecta entre la inspección 2D y 3D.
La fuente microfoco de rayos X Xi Nanotech de Nikon, líder en el mercado, es única debido a su exclusivo diseño de generador integral y una energía máxima de 160 kV sin precedentes y una potencia de objetivo real de 20 W.
High.Contrast Filter revela detalles ocultos en la imagen de la radiografía, ya que ofrece una excelente calidad de imagen en áreas de alto y bajo contraste en una sola imagen clara. Los operadores ahora pueden identificar todos los aspectos de la muestra mucho más rápido que antes, optimizando y aumentando su productividad.
PCB Analysis Suite es capaz de realizar mediciones y análisis avanzados de BGA, cables de enlace, PTH y paquetes complejos como PoP en placas de múltiples capas, con reportes e inspección automatizados de éxito/fallo.
El campo de visión de ángulo oblicuo extremo de hasta 90°, con rotación de muestra de 360°, mantiene la región de interés gracias al software y hardware inteligentes.
Los sistemas son de uso intuitivo y aprovechan el software líder en la industria para maximizar la productividad de todos los operadores con necesidad mínima de capacitación.
Con reconocimiento de características submicrónicas, los sistemas de inspección XT V son ideales para una amplia gama de aplicaciones en numerosas industrias, incluyendo la inspección de ensambles de PCB, BGA, chips, componentes médicos, automotrices y aeroespaciales, productos de consumo y mucho más.
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| XT V130C Sistema rentable de 130 kV para la inspección de componentes electrónicos | XT V160 Sistema premium de 160 kV para aplicaciones de rayos X y TC de alta precisión |
| Energía | Energía |
| Resolución | Resolución |
| Campo de visión | Campo de visión |
| Listo para TC | Listo para TC |
| Listo para X.Tract | Listo para X.Tract |
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