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Estos sistemas combinan la versatilidad necesaria en el laboratorio, con funciones únicas como Rotating.Target 2.0 de alto flujo, el modo de adquisición TC Half.Turn y Auto.Filament Control para reducir el tiempo del ciclo y mejorar el tiempo de actividade cuando se utiliza para inspección de las series en el área de producción.
Gracias a la posibilidad de elegir la fuente, los objetivos, las estrategias de escaneo TC y las opciones como el ajuste motorizado de distancia de la fuente al detector, los sistemas 225/320kV son versátiles y se adaptan a un amplio rango de tareas de inspección.
Seleccione el objetivo adecuado para su aplicación: desde el objetivo de transmisión con reconocimiento submicrométrico, hasta Rotating.Target 2.0 único en el mundo que brinda un excelente desempeño, hasta el objetivo de 320 kV para muestras más densas.
Permite una operación continua de hasta 450 W con una resolución hasta tres veces más para la misma potencia, o recolección de datos tres veces más rápida para una resolución específica.
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XT H225 Para la inspección de piezas pequeñas a medianas | XT H225 ST 2x Sistema flexible para una variedad de aplicaciones | MCT225 Metrología con tomografía computarizada de rayos X de alta precisión | XT H320 Fuente de alto kV para piezas grandes y densas |
Tamaño de la pieza | Tamaño de la pieza | Tamaño de la pieza | Tamaño de la pieza |
Densidad de la pieza | Densidad de la pieza | Densidad de la pieza | Densidad de la pieza |
Precisión | Precisión | Precisión | Precisión |
Energía | Energía | Energía | Energía |
Versatilidad | Versatilidad | Versatilidad | Versatilidad |
Superficie ocupada | Superficie ocupada | Superficie ocupada | Superficie ocupada |
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