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Folletos

Sistemas de medición por video

Medición manual

Microscopía Industrial

Folletos generales

Catálogo general de instrumentos industriales (Español)

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Folleto de soluciones de metrología de Nikon (Español)

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TC de rayos X

Serie XT H (Español)

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Serie VOXLS 30 (Español)

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XT H 225 ST 2x (Español)

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High.Contrast Filter

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VOXLS 40 C 450 (Español)

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LiB.Overhang Analysis (Inglés)

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Servicios de inspección de rayos X y TC (Inglés)

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MCT 225 (Inglés)

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TC automatizada (Español)

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Sistemas de rayos X y TC configurables (Inglés)

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Serie XT V (Español)

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Laser Radar

Estaciones APDIS Intelligent Quality (Español)

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APDIS Gap & Flush (Inglés)

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APDIS Automotriz (Español)

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Laser Radar APDIS (Español)

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Escáneres láser 3D

LC15Dx (Inglés)

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Focus (Inglés)

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XC65Dx (Español)

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L100 (Español)

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ModelMaker H120 y MCAx S (Inglés)

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Sistemas de medición por video

Serie VMZ-S (Español)

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Serie VMA (Español)

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SDK de control remoto (Español)

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VMZ-H3030 (Inglés)

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Serie VMZ-K (Inglés)

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Medición manual

Microscopios de medición serie MM (Español)

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Digimicro (Español)

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Autocolimadores (Inglés)

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Proyectores de perfiles (Inglés)

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Microscopía Industrial

Componentes del microscopio (Inglés)

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NIS Elements (Español)

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Cámaras digitales para microscopios (Inglés)

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Cargador de obleas para inspección de circuitos integrados NWL200 (Inglés)

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Microscopios verticales POL (Inglés)

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Microscopios invertidos Serie MA (Español)

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Microscopios verticales Serie LV-N (Español)

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Microscopios verticales Serie L (Español)

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Microscopios estereoscópicos (Español)

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Casos de estudio

Nikon presenta un sistema rápido y automatizado para inspeccionar códigos de identificación de obleas

Para ayudar en el control de la calidad de las empresas de fabricación de obleas de silicio, la Unidad industrial…

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En la pista o en el taller, el Sistema de medición por video de Nikon ayuda a que Roush Yates Engines vaya más rápido

En las rondas de las carreras de autos de Estados Unidos, cualquier debate sobre potencia debe incluir a Roush Yates…

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El dulce sonido del escaneo TC de rayos X

Nikon Metrology toma la medida de un violín de 280 años de edad. “Lo que es pasado,” como escribió William…

Ver caso de estudio

Beneficios de las imágenes de TC de rayos X de alta resolución

Para aplicaciones industriales, los sistemas de tomografía computarizada (TC) de rayos X microfoco a gran escala de Nikon Metrology Inc.,…

Ver caso de estudio

TC y Rayos X para control de calidad de piezas metálicas de MA

Casi todas las industrias han experimentado un crecimiento explosivo en la Manufactura Aditiva (impresión MA o 3D) de componentes metálicos,…

Ver caso de estudio

El centro Micro-TC de la universidad alcanza la meta del financiamiento

Se ha instalado en la Universidad de Arkansas (U de A – www.uark.edu) un avanzado sistema de imágenes de tomografía…

Ver caso de estudio

Investigación básica sobre microestructura de componentes fabricados de manera aditiva utilizando TC de rayos X

La Universidad de Nebraska-Lincoln invierte en el sistema de tomografía computarizada de Nikon Metrology para que la TC de rayos…

Ver caso de estudio

La tomografía computarizada de rayos X automatizada de Nikon acelera los servicios industriales, de archivo y de investigación del Museo de Historia Natural de Londres

El Museo de Historia Natural (NHM) de Londres es uno de los pocos museos del mundo que automatiza la el…

Ver caso de estudio

La máquina de medición por video duplica el rendimiento del control de calidad de un fabricante de productos médicos

“Basamos nuestra decisión de compra en las experiencias de otros clientes que nos dijeron que los productos de Nikon…

Ver caso de estudio

El microscopio protege las muestras de la contaminación

Se ha sustituido un microscopio clásico por un nuevo modelo binocular Nikon Metrology SMZ745 con un rango de zoom de 0.67x a 5x y su generosa distancia de trabajo de 115 mm.

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Software

Microscopios industriales

Microscopios estereoscópicos

Software de imágenes

Cámaras para microscopios

Accesorios

Múltiples productos

TC de rayos X / Escáneres láser 3D / Laser Radar

Microscopios industriales

ECLIPSE MA200

Herramienta de configuración Ver1.2.1 (32 bits)

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ECLIPSE MA200

Herramienta de configuración Ver1.2.1 (64 bits)

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Serie LV

Herramientas de soporte Ver2.3.3 (64 bits)

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ECLIPSE L300N/ L300ND/L200N/L200ND

Herramienta de configuración Ver1.2.1 (32 bits)

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ECLIPSE L300N/ L300ND/L200N/L200ND

Herramienta de configuración Ver1.2.1 (64 bits)

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Microscopios estereoscópicos

SMZ25/SMZ18 /SMZ1270i

Software de control Herramientas de soporte SMZ V1.4.0 (64 bits)

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Software de imágenes

Visor de NIS-Elements

Ver4.11.00 (Mac)

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Visor de NIS-Elements

Ver5.21.00 (Windows)

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NIS-Elements L

KsCam.dll Ver9.1.2.3

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NIS-Elements L

Ver1.21.00 (64bit)

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NIS-Elements F

Ver4.60.00 (64 bits)

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NIS-Elements F

Ver5.21.00 (64 bits)

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NIS-Elements F

Ver5.22.00 (64bit)

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NIS-Elements F

Ver5.42.00 (64 bits)

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NIS-Elements F

Ver5.42.01 64bit

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NIS-Elements D-Ver5.02.03 (64 bits)

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NIS-Elements D-Ver5.11.03 (64 bits)

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NIS-Elements D

Ver5.11.03 Patch01 (64 bits)

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NIS-Elements D

Ver5.21.03 (64 bits)

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NIS-Elements D-Ver5.30.05 (64 bits)

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NIS-Elements D

Ver5.42.01 (64bit)

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NIS-Elements D

Ver5.42.01 Device Updater 64bit

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NIS-Elements D

Ver6.01.00 (64bit)

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NIS-Elements BR

Ver5.02.03 (64 bits)

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NIS-Elements BR

Ver5.11.03 (64 bits)

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NIS-Elements BR

Ver5.11.03 Patch01 (64 bits)

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NIS-Elements BR

Ver5.21.03 (64 bits)

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NIS-Elements BR

Ver5.30.05 (64 bits)

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NIS-Elements BR

Ver5.42.01 (64bit)

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NIS-Elements BR

Ver5.42.01 Device Updater 64bit

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NIS-Elements BR

Ver6.01.00 (64bit)

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NIS-Elements AR

Ver5.02.03 (64 bits)

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NIS-Elements AR

Ver5.11.03 (64 bits)

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NIS-Elements AR

Ver5.11.03 Patch01 (64 bits)

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NIS-Elements AR

Ver5.21.03 (64 bits)

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NIS-Elements AR

Ver5.30.05 (64 bits)

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NIS-Elements AR

Ver5.42.01 (64bit)

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NIS-Elements AR

Ver5.42.01 Device Updater 64bit

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NIS-Elements AR

Ver6.01.00 (64bit)

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Cámaras para microscopios

Serie Digital Sight

Software de control NIS-Elements F Ver2.21 (versión en inglés)

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Serie Digital Sight

Firmware DS-Qi2 Ver1.03

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Viewer Ver1.0.2 (Mac)

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Serie Digital Sight

Visor DS-L4 Ver1.0.2 (Windows)

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Serie Digital Sight

Firmware DS-Qi2 Ver2.00

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Serie Digital Sight

Firmware DS-Ri2 Ver2.00

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Firmware DS-Qi2 Ver2.10

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Serie Digital Sight

Firmware DS-Ri2 Ver2.10

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.1.0

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Firmware DS-Fi3 Ver1.10

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Serie Digital Sight

Firmware DS-Qi2 Ver2.11

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Serie Digital Sight

Firmware DS-Ri2 Ver2.11

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.2.0

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Viewer Ver1.1.0 (Mac)

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Aplicación DS-L4 Viewer Ver1.1.0 (Windows)

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Aplicación DS-L4 Ver1.3.0

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Aplicación DS-L4 Viewer Ver1.2.0 (Mac)

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Aplicación DS-L4 Viewer Ver1.2.0 (Windows)

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Viewer Ver1.2.0 (Android)

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.0

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Aplicación DS-L4 Viewer Ver1.2.1 (Android)

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.1

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.2

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.3

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Aplicación DS-L4 Viewer Ver1.2.2 (Android)

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.4

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.5

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.6

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.7

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.8

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.11

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Serie Digital Sight

Digital Sight 1000 Ver3.18

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Serie Digital Sight

Digital Sight 10 Ver1.10

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Serie Digital Sight

Digital Sight 10 Ver1.20

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Serie Digital Sight

Digital Sight 10 Ver1.30

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Serie Digital Sight

Digital Sight 50M Ver1.30

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Accesorios

Iluminador de fibra precentrado HG: software de control Fiber Controller (Ver1.0.1)

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Múltiples productos

Controlador de comunicación USB de microscopio

micusb Ver3.0.1.13 (64 bits)

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Controlador de comunicación USB de microscopio

micusb Ver3.0.1.14 (64 bits)

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TC de rayos X / Escáneres láser 3D / Laser Radar

Licencia NM API Metrolog

(.zip, 1kb)

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Licencia NM API PolyWorks

(.zip, 1kb)

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Licencia NM API CAMIO

(.zip, 1kb)

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Instalador de licencias: NMLicensingInstaller Ver2.2 (archivo msi, 54 MB)

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Investigación básica sobre microestructura de componentes fabricados de manera aditiva utilizando TC de rayos X

La tomografía computarizada de rayos X automatizada de Nikon acelera los servicios industriales, de archivo y de investigación del Museo de Historia Natural de Londres

La máquina de medición por video duplica el rendimiento del control de calidad de un fabricante de productos médicos

El microscopio protege las muestras de la contaminación

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