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Folletos

Folletos generales
TC de rayos X
Laser Radar
Escáneres láser 3D
Sistemas de medición por video
Medición manual
Microscopía Industrial

Folletos generales

Folleto de soluciones de metrología de Nikon (Español)

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Catálogo general de instrumentos industriales (Español)

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TC de rayos X

Serie XT H (Español)

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Serie XT V (Español)

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XT H 225 ST 2x (Español)

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Sistemas de rayos X y TC configurables (Inglés)

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TC automatizada (Español)

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MCT 225 (Inglés)

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Servicios de inspección de rayos X y TC (Inglés)

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LiB.Overhang Analysis (Inglés)

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VOXLS 40 C 450 (Español)

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High.Contrast Filter

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Laser Radar

Laser Radar APDIS (Español)

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APDIS Automotriz (Inglés)

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APDIS Gap & Flush (Inglés)

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Estaciones APDIS Intelligent Quality (Español)

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Escáneres láser 3D

ModelMaker H120 y MCAx S (Inglés)

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L100 (Español)

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XC65Dx (Español)

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Focus (Inglés)

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LC15Dx (Inglés)

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Sistemas de medición por video

Serie VMZ-S (Español)

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Serie VMA (Español)

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Serie VMZ-K (Inglés)

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VMZ-H3030 (Inglés)

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SDK de control remoto (Español)

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Medición manual

Proyectores de perfiles (Inglés)

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Autocolimadores (Inglés)

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Digimicro (Inglés)

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Microscopios de medición serie MM (Inglés)

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Microscopía Industrial

Microscopios estereoscópicos (Español)

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Microscopios verticales Serie L (Inglés)

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Microscopios verticales Serie LV-N (Español)

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Microscopios invertidos Serie MA (Inglés)

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Microscopios verticales POL (Inglés)

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Cargador de obleas para inspección de circuitos integrados NWL200 (Inglés)

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Cámaras digitales para microscopios (Inglés)

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NIS Elements (Español)

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Componentes del microscopio (Inglés)

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Casos de estudio

En la pista o en el taller, el Sistema de medición por video de Nikon ayuda a que Roush Yates Engines vaya más rápido

En las rondas de las carreras de autos de Estados Unidos, cualquier debate sobre potencia debe incluir a Roush Yates…
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El dulce sonido del escaneo TC de rayos X

Nikon Metrology toma la medida de un violín de 280 años de edad. “Lo que es pasado,” como escribió William…
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Beneficios de las imágenes de TC de rayos X de alta resolución

Para aplicaciones industriales, los sistemas de tomografía computarizada (TC) de rayos X microfoco a gran escala de Nikon Metrology Inc.,…
Ver caso de estudio

TC y Rayos X para control de calidad de piezas metálicas de MA

Casi todas las industrias han experimentado un crecimiento explosivo en la Manufactura Aditiva (impresión MA o 3D) de componentes metálicos,…
Ver caso de estudio

El centro Micro-TC de la universidad alcanza la meta del financiamiento

Se ha instalado en la Universidad de Arkansas (U de A – www.uark.edu) un avanzado sistema de imágenes de tomografía…
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Investigación básica sobre microestructura de componentes fabricados de manera aditiva utilizando TC de rayos X

La Universidad de Nebraska-Lincoln invierte en el sistema de tomografía computarizada de Nikon Metrology para que la TC de rayos…
Ver caso de estudio

La tomografía computarizada de rayos X automatizada de Nikon acelera los servicios industriales, de archivo y de investigación del Museo de Historia Natural de Londres

El Museo de Historia Natural (NHM) de Londres es uno de los pocos museos del mundo que automatiza la el…
Ver caso de estudio

La máquina de medición por video duplica el rendimiento del control de calidad de un fabricante de productos médicos

  “Basamos nuestra decisión de compra en las experiencias de otros clientes que nos dijeron que los productos de Nikon…
Ver caso de estudio

El microscopio protege las muestras de la contaminación

Se ha sustituido un microscopio clásico por un nuevo modelo binocular Nikon Metrology SMZ745 con un rango de zoom de 0.67x a 5x y su generosa distancia de trabajo de 115 mm.

Ver caso de estudio

Escaneo láser: La herramienta potente y flexible de elección para la fabricación avanzada

Los escáneres láser son dispositivos de medición extraordinariamente eficientes, flexibles y fiables que se pueden combinar con la tecnología de…
Ver caso de estudio

Software

Microscopios industriales
Microscopios estereoscópicos
Software de imágenes
Cámaras para microscopios
Accesorios
Múltiples productos
TC de rayos X / Escáneres láser 3D / Laser Radar

Microscopios industriales

ECLIPSE L300N/ L300ND/L200N/L200ND

Herramienta de configuración Ver1.2.1 (64 bits)

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ECLIPSE L300N/ L300ND/L200N/L200ND

Herramienta de configuración Ver1.2.1 (32 bits)

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Serie LV

Herramientas de soporte Ver2.3.3 (64 bits)

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ECLIPSE MA200

Herramienta de configuración Ver1.2.1 (64 bits)

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ECLIPSE MA200

Herramienta de configuración Ver1.2.1 (32 bits)

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Microscopios estereoscópicos

SMZ25/SMZ18 /SMZ1270i

Software de control Herramientas de soporte SMZ V1.4.0 (64 bits)

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Software de imágenes

NIS-Elements AR

Ver5.42.01 Device Updater 64bit

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NIS-Elements AR

Ver5.42.01 (64bit)

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NIS-Elements AR

Ver5.30.05 (64 bits)

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NIS-Elements AR

Ver5.21.03 (64 bits)

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NIS-Elements AR

Ver5.11.03 Patch01 (64 bits)

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NIS-Elements AR

Ver5.11.03 (64 bits)

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NIS-Elements AR

Ver5.02.03 (64 bits)

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NIS-Elements BR

Ver5.42.01 Device Updater 64bit

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NIS-Elements BR

Ver5.42.01 (64bit)

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NIS-Elements BR

Ver5.30.05 (64 bits)

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NIS-Elements BR

Ver5.21.03 (64 bits)

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NIS-Elements BR

Ver5.11.03 Patch01 (64 bits)

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NIS-Elements BR

Ver5.11.03 (64 bits)

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NIS-Elements BR

Ver5.02.03 (64 bits)

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NIS-Elements D

Ver5.42.01 Device Updater 64bit

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NIS-Elements D

Ver5.42.01 (64bit)

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NIS-Elements D

Ver5.11.03 Patch01 (64 bits)

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Ver4.60.00 (64 bits)

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NIS-Elements L

Ver1.21.00 (64bit)

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Visor de NIS-Elements

Ver5.21.00 (Windows)

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Visor de NIS-Elements

Ver4.11.00 (Mac)

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Cámaras para microscopios

Serie Digital Sight

Digital Sight 10 Ver1.20

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Serie Digital Sight

Digital Sight 10 Ver1.10

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Serie Digital Sight

Digital Sight 1000 Ver3.18

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.8

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.7

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.6

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.5

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.4

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Viewer Ver1.2.2 (Android)

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.3

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.2

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Aplicación DS-L4 Ver1.5.1

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Aplicación DS-L4 Viewer Ver1.2.1 (Android)

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.5.0

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.4.0

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Aplicación DS-L4 Viewer Ver1.1.0 (Android)

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Aplicación DS-L4 Viewer Ver1.1.0 (Windows)

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Viewer Ver1.1.0 (Mac)

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Ver1.2.0

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Serie Digital Sight

Firmware DS-Ri2 Ver2.11

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Firmware DS-Fi3 Ver1.10

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Aplicación DS-L4 Ver1.1.0

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Serie Digital Sight

Firmware DS-Ri2 Ver2.10

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Serie Digital Sight

Firmware DS-Qi2 Ver2.10

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Serie Digital Sight

Firmware DS-Ri2 Ver2.00

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Serie Digital Sight

Firmware DS-Qi2 Ver2.00

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Serie Digital Sight

Visor DS-L4 Ver1.0.2 (Windows)

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Serie Digital Sight

Aplicación DS-L4 Viewer Ver1.0.2 (Mac)

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Serie Digital Sight

Firmware DS-Qi2 Ver1.03

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Serie Digital Sight

Software de control NIS-Elements F Ver2.21 (versión en inglés)

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Accesorios

Iluminador de fibra precentrado HG: software de control Fiber Controller (Ver1.0.1)

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Múltiples productos

Controlador de comunicación USB de microscopio

micusb Ver3.0.1.14 (64 bits)

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Controlador de comunicación USB de microscopio

micusb Ver3.0.1.13 (64 bits)

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TC de rayos X / Escáneres láser 3D / Laser Radar

Instalador de licencias: NMLicensingInstaller Ver2.2 (archivo msi, 54 MB)

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Licencia NM API CAMIO

(.zip, 1kb)

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Licencia NM API PolyWorks

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Licencia NM API Metrolog

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