透過型マイクロフォーカスX線源

ニコン独自の透過型マイクロフォーカスX線源を搭載したXT V160は、最小スポットサイズ1μmの高分解能を実現しています。マイクロBGA、多層基板、はんだ接合部などの電子部品に加え、医療・自動車・航空部品など広範囲の非破壊検査に対応しています。

主な特長

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優れたX線源

ニコン独自開発のマイクロフォーカスX線源は、最小スポットサイズ1μmの高分解能を実現。実装基板や電子部品のクリアな透過画像を取得可能です。

パワフルに進化した画像処理

High.Contrast Filterは、1枚の画像の高コントラストと低コントラストの両方の領域で優れた画像品質を提供することにより、素画像では見え難かった詳細箇所も鮮明に表現します。オペレータは、被検物の内部情報を迅速に知ることができるようになるため、生産性の向上が可能です。

生産性の向上

クラス最高の検査領域-設置面積率で、最大711 mm×762 mm(28”×30″)のサンプルが収容可能。検出器視野も最大25 cm×20 cmを確保しています。

コスト効率に優れた3D CT

フル3DコンポーネントNDTであらゆる方向からのデジタルスライスを実現する、CTとX. Tractによる三次元検査が可能。小さい部品に対しても、高精度でコスト効率に優れたCTソリューションです。

特長・機能

産業

Industries / Use Cases Paragraph

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