XT V 130 dan XT V 160

Jajaran XT V Nikon terdiri dari sistem CT dan X-ray kelas dunia untuk pemeriksaan non-destruktif komponen elektronik (PCB, BGA, chip, dan lainnya).
XT-V 130 and XT V160

XT V 130 dan XT V 160

Dengan pengenalan fitur sub-mikron, rangkaian sistem XT V memenuhi kebutuhan terkini akan pemeriksaan non-destruktif berkinerja tinggi untuk komponen elektronik yang kompleks. Xi Nanotech X-ray source Nikon dikombinasikan dengan detektor panel datar terkemuka di industri dan transisi yang mulus antara pemeriksaan 2D dan 3D, menghasilkan kualitas citra terbaik di kelasnya.

Sorotan Produk

1-x-ray-xtv130-xtv160-superior-x-ray-source

X-ray Source yang Unggul

Xi Nanotech X-ray microfocus source Nikon yang terdepan di industrinya memiliki keunikan tersendiri karena desain generator integral yang eksklusif dan energi maksimum 160kV istimewa serta true-target power 20W.

Penajaman Citra Tercanggih

Filter High.Contrast menampilkan detail tersembunyi dalam citra radiografi dengan memberikan kualitas citra yang luar biasa pada area kontras tinggi dan rendah dalam satu citra yang jernih. Sekarang operator dapat mengidentifikasi semua aspek sampel lebih cepat daripada sebelumnya yang akan mengoptimalkan dan meningkatkan produktivitas mereka.

2-x-ray-xtv130-xtv160-pcb-analysis

Rangkaian Analisis PCB

Rangkaian Analisis PCB (PCB Analysis Suite) mampu melakukan pengukuran dan analisis tingkat lanjut untuk BGA, kabel bond, PTH, dan paket kompleks seperti PoP pada multi-layered boards, dengan pemeriksaan dan pelaporan lolos/gagal secara otomatis.

x-ray-xtv130-xtv160-oblique-angle-concentric-imaging (1)

Pencitraan Konsentris Sudut Miring

Ruang pandang sudut miring ekstrem hingga 90°, dengan rotasi sampel 360°, mempertahankan area yang diinginkan berkat perangkat lunak dan perangkat keras yang cerdas.

Fitur Utama

Sektor Industri

Sistem ini mudah digunakan dan menggunakan perangkat lunak terkemuka di industri untuk memaksimalkan produktivitas bagi semua operator dengan kebutuhan pelatihan yang minimal.

Dengan pengenalan fitur sub-mikron, sistem pemeriksaan XT V ideal untuk berbagai aplikasi di berbagai sektor industri, termasuk pemeriksaan rakitan PCB, BGA, chip, komponen medis, otomotif dan kedirgantaraan, produk konsumen, dan lainnya.

xtv-series-cover

Seri XT V

Layanan Pemeriksaan X-ray CT

High Contrast Filter flyer cover

Filter High.Contrast

nikon-metrology-xtv130cnikon-metrology-xtv160
XT V130C
Sistem 130kV yang hemat biaya untuk pemeriksaan komponen elektronik
XT V160
Sistem 160kV premium untuk penggunaan X-ray dan CT akurasi tinggi
Daya Daya
Resolusi Resolusi
Field of View Field of View
CT Ready CT Ready
X.Tract Ready X.Tract Ready

Produk Terkait

Penggunaan Inspect-X untuk CT 3D

Didesain berdasarkan pengalaman pengguna, perangkat lunak Inspect-X ini menyediakan tampilan yang intuitif, mode pemindaian tingkat lanjut dan alur kerja yang mudah digunakan untuk semua sistem X-ray dan CT.
Temukan Produk

Hubungi Kami Tentang Produk Ini

Untuk detail lebih lanjut mengenai produk ini, tim ahli kami akan memberikan informasi tambahan, dan akan mengatur kunjungan ke lokasi Anda bila diperlukan.

Konsultasikan detail proyek Anda kepada kami dan tim ahli kami akan memberikan saran mengenai sistem pemeriksaan terbaik sesuai kebutuhan Anda.

Silakan isi formulir berikut dan kami akan segera menghubungi Anda.

"Kolom ini wajib diisi." indicates required fields

Nama LengkapKolom ini wajib diisi.
Alamat EmailKolom ini wajib diisi.
Kode Pos dan NegaraKolom ini wajib diisi.

Saya bersedia dihubungi oleh Nikon Corporation, anak perusahaannya, dan dealer atau distributor lokalnya menggunakan informasi kontak yang tertera, serta mengonfirmasi bahwa saya telah membaca dan menyetujui Syarat Penggunaan dan Kebijakan Privasi mereka.
This field is for validation purposes and should be left unchanged.