Nikon Logo - Primary
PT Nikon Indonesia

Select Your Region and Language

Products and promotions may differ based on your selected region.

Americas

English
Español

Europe & Africa

English
Deutsch
Français

Japan

日本語

Korea

한글

Chinese Mainland

简体中文

Indonesia

Bahasa Indonesia

Thailand

ภาษาไทย

Other Regions

English
Global
Nikon Logo - Primary

Analisis LiB.Overhang

Berkat teknologi AI termutakhir, algoritme rekonstruksi internal dan teknologi X-ray source yang canggih, kini overhang anoda dapat diukur dalam 3D dengan lebih cepat dan lebih tepat dari sebelumnya.

Sorotan Produk

Seratus Persen Otomatis

Mendorong peningkatan reproduksibilitas, analisis otomatis memberikan hasil numerik dari awal hingga akhir – tanpa memerlukan operator.

Peningkatan Produktivitas

Teknologi analisis AI toleran terhadap kebisingan dan bekerja dengan andal, bahkan pada set data CT berkecepatan tinggi.

Dirancang untuk Pabrik

Hasil akhir dapat dibaca mesin untuk integrasi dengan sistem pengendalian proses mengoptimalkan proses produksi.

Fitur Utama

Analisis LiB.Overhang

Unduh

Seri XT H

Unduh

XT H 225 ST 2x

Unduh

CT Terotomatisasi

Unduh

Produk Terkait

Seri XT H

Sistem CT dengan mikrofokus serbaguna dari Nikon menyediakan hasil pemeriksaan komponen beresolusi tinggi, mulai konektor plastik mungil hingga casting aluminium, untuk Litbang, analisis kegagalan, dan kendali kualitas produksi.
Temukan Produk

AI Reconstruction

AI Reconstruction Nikon merevolusi pemindaian tomografi terkomputasi (CT) melalui peningkatan gambar otomatis yang didukung oleh kecerdasan buatan (AI). Disesuaikan dengan kebutuhan setiap pelanggan, teknologi ini memberikan tingkat kecepatan dan kualitas baru untuk memberikan pendeteksian cacat yang unggul sekaligus mempercepat produktivitas.
Temukan Produk

Sistem Sinar X dan CT Seri VOXLS 30

Sistem Seri VOXLS 30 Nikon memberikan kesiapan automasi, yang dikemas dalam ukuran yang lebih efisien dan dipadukan dengan energi pemindaian sebesar 225 kV, 320 kV, atau 450 kV, menjadikannya solusi yang ideal untuk sampel berukuran kecil hingga sedang dengan kepadatan rendah hingga tinggi.
Temukan Produk

Hubungi Kami Tentang Produk Ini

Untuk detail lebih lanjut mengenai produk ini, tim ahli kami akan memberikan informasi tambahan, dan akan mengatur kunjungan ke lokasi Anda bila diperlukan.

Konsultasikan detail proyek Anda kepada kami dan tim ahli kami akan memberikan saran mengenai sistem pemeriksaan terbaik sesuai kebutuhan Anda.

Silakan isi formulir berikut dan kami akan segera menghubungi Anda.

"Kolom ini wajib diisi." indicates required fields

Nama LengkapKolom ini wajib diisi.
Alamat EmailKolom ini wajib diisi.
Kode Pos dan NegaraKolom ini wajib diisi.

Saya bersedia dihubungi oleh Nikon Corporation, anak perusahaannya, dan dealer atau distributor lokalnya menggunakan informasi kontak yang tertera, serta mengonfirmasi bahwa saya telah membaca dan menyetujui Syarat Penggunaan dan Kebijakan Privasi mereka.
This field is for validation purposes and should be left unchanged.