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News

Tilted CT améliore l’inspection par rayons X de composants plats ou contenant des zones de grande densité.

Actualités
Une technique avant-gardiste de laminographie numérique (LN) par rayons X a été lancée par l’Unité commerciale de métrologie industrielle de Nikon…
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La solution de mesure automatique des wafers prend en charge les mesures requises pour le contrôle des processus en aval.

Actualités
La division Métrologie industrielle de Nikon Corporation a lancé le système de mesure automatique des wafers NEXIV VMZ-NWL 200 pour relever les…
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Nikon renforce ses solutions d’inspection par rayons X grâce à l’acquisition d’Avonix Imaging

Actualités
Nikon Americas Inc, la filiale américaine de Nikon Corporation (Nikon), a acheté la société Avonix Imaging LLC*(Avonix), basée à Maple…
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Le logiciel de mesure vidéo se dote d’une fonction de réglage automatique des arêtes

Actualités
Depuis plus de 30 ans, les fabricants qui utilisent les machines de mesure vidéo de la série NEXIV de Nikon exploitent…
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Le nouveau filtre Nikon améliore la qualité de l’image pour optimiser l’inspection par rayons X

Actualités
Un nouveau filtre a été élaboré par l’Unité commerciale de métrologie industrielle de Nikon Corporation (https://industry.nikon.com). Il optimise parfaitement le…
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Microscopes de mesure - MM-400N & MM-800N

Nikon lance de nouveaux microscopes de mesure avec une fonctionnalité et une convivialité accrues

Actualités
La série de microscopes de mesure industriels MM de Nikon a fait l’objet de mises à jour périodiques depuis le…
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Dernières nouvelles : Nikon Corporation vient d’annoncer que sa filiale Nikon Americas Inc (« NAI ») a entamé les procédures pour l’acquisition d’Avonix Imaging, LLC, USA, basée dans le Minnesota, ce qui fera d’Avonix une filiale de NAI.

Actualités
Cette démarche renforcera notre position de leader du marché et améliorera considérablement notre capacité à fournir les meilleures solutions d’inspection…
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Nikon lance un système polyvalent de CT par rayons X à grand volume, le premier de la prochaine génération de solutions d’inspection

Actualités
Le premier d’une gamme innovante de systèmes CT par rayons X (tomographie numérique) hautes performances offrant de meilleurs niveaux de…
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Nikon complète sa gamme de système CT par rayons X nouvelle génération avec une source de 225 kV

Actualités
Lancement du système CT par rayons X à venir cette année Après le lancement par l’unité commerciale de métrologie industrielle…
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Nikon lance des systèmes d’inspection microfoyer 450 kV de taille intermédiaire

Actualités
Lancements du système CT par rayons X à venir cette année L’unité commerciale de métrologie industrielle de Nikon (www.industry.nikon.com) dévoile…
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