Nikon a introduit la série NEXIV VMF-K, un système de mesure vidéo haute-performance qui améliore considérablement le débit de mesure.
TOKYO : Nikon Corporation (Nikon) a lancé la série NEXIV VMF-K, un système de mesure vidéo de dernière génération conçu pour répondre aux exigences croissantes d’inspection dans le secteur des semiconducteurs et des composants électroniques.
En s’appuyant sur le succès de la série VMZ-K, la série NEXIV VMF-K offre des avantages importants à un large éventail d’industries en plus de la fabrication des semiconducteurs, notamment dans le conditionnement, la production de substrats, l’inspection de wafers, et l’inspection des cartes de sondes.
Alors que les semiconducteurs deviennent plus petits et plus intégrés, les processus d’inspection deviennent de plus en plus essentiels pour conserver la qualité. La série NEXIV VMF-K relève ce défi en fournissant des mesures stables des dimensions au niveau du micron tout en améliorant considérablement le débit, soutenant ainsi le contrôle qualité rigoureux dans la fabrication des dispositifs semi-conducteurs.
La nouvelle série NEXIV VMF-K comprend le VMF-K3040, qui remplace le VMZ-K3040, et le VMF-K6555, qui remplace le VMZ-K6555.
Principaux avantages de la série NEXIV VMF-K :
- Débit de mesure amélioré : Le débit de mesure de la série VMF-K est 1,5 fois supérieur à celui du précédent modèle VMZ-K (selon les conditions de mesure standard de Nikon), ce qui réduit nettement le temps de mesure et augmente la productivité.
- Optiques avancées : Équipée d’un système optique confocal, la série VMF-K permet simultanément la mesure 2D et la mesure de la hauteur dans le champ de vision, ce qui permet d’obtenir un débit considérablement supérieur à celui obtenu dans le cas de la mesure de la hauteur à l’aide d’images à fond clair uniquement.
- Source lumineuse améliorée : Le changement de source de lumière confocale d’une lampe au xénon à une DEL, entraîne une augmentation de la durée de vie de 3 000 heures à 30 000 heures. Cette amélioration augmente l’efficacité opérationnelle et réduit le besoin de remplacer des lampes.
- Gamme de modèles étendue : La série inclut maintenant un objectif 45x standardisé, qui prend en charge les exigences de mesure avancée de semiconducteurs, même pour les mesures plus précises.
- Conformité SEMI S2/S8 : La série VMF-K répond aux normes de sécurité industrielle pour les équipements de fabrication des semiconducteurs lorsqu’elle est installée correctement conformément aux directives SEMI S2/S8.
- Nouvelle fonction logicielle : La série permet d’afficher le temps restant lors de la mesure.
- Nouveau design extérieur : La série présente un design d’usine élégant avec des tons noir et argenté.
« Nous sommes ravis d’introduire la série NEXIV VMF-K, une solution de pointe qui répond aux besoins croissants de mesures plus fines dans la fabrication des semiconducteurs et des composants électroniques », a déclaré un porte-parole de Nikon.
« En améliorant nettement le débit de mesure et en maintenant une précision élevée, notre nouveau système permet aux fabricants d’améliorer les processus de contrôle qualité et d’accélérer le développement de produits face à l’augmentation de la miniaturisation et à l’intégration des dispositifs semi-conducteurs ».
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